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激光圖像粒度粒形分析儀的應(yīng)用行業(yè)解析 分析儀如何操作

時間:2020-08-07    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     

激光圖像粒度粒形剖析儀了樣品折射率丈量技術(shù),對未知折射率的新資料也能得到的粒度測試結(jié)果。

進(jìn)口半導(dǎo)體泵浦激光器,壽命大于25000小時;采用進(jìn)口的高精度透鏡組,保證了微小的、各角度的散射光信號無一漏網(wǎng);采用進(jìn)口的高速CCD與高像遠(yuǎn)心鏡頭,成像明晰無拖尾現(xiàn)象;采用高速顆粒辨認(rèn)技術(shù),每分鐘可剖析幾萬個顆粒數(shù)目。

激光圖像粒度粒形剖析儀主要應(yīng)用范疇
1.各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
2.各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體:河流泥沙、鋰電池資料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、農(nóng)藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工資料、納米資料、造紙?zhí)盍贤苛稀⒏鞣N乳濁液等。

總之,該儀器是集激光散射、顯微成像于一體的新一代粒度測試儀器。

差熱分析儀適用須謹(jǐn)慎

  差熱分析儀專門用于測試可能對普通DTA差熱分析儀帶來損壞的爆炸性物質(zhì),適用于物理化學(xué)實驗中差熱分析與研究,采用智能溫度控制和采集,進(jìn)行數(shù)據(jù)分析處理并做變化曲線圖,一般在大專院校、科研機(jī)構(gòu)、工礦企業(yè)等單位應(yīng)用的較多?! ∮捎诓顭岱治鰞x屬于精密分析儀器,我們在使用時要特別謹(jǐn)慎:  1、實驗室溫度控制在15-25℃,溫度較為恒定的情況下試驗結(jié)果精確度和重復(fù)性高。高溫較高的情況下需開空調(diào);  2、為確保試驗結(jié)果的準(zhǔn)確性,使用儀器時先空燒30分鐘左右。儀器時間長時間不用,再次使用時,無比空燒(不放任何樣品和參比物)兩到三次,可以將:溫度設(shè)置為600℃、速率設(shè)為5℃∕min、恒溫設(shè)為0min按RUN鍵;  3、試樣用量不宜過多,也不宜過少,應(yīng)適宜。一般為20mg左右,如測試用量另有要求,根據(jù)要求確定用量;  4、粉狀試樣應(yīng)壓實;  5、將差熱分析儀放置在無強(qiáng)電磁場干擾的區(qū)域內(nèi),并將NDTA-III型加熱器放置穩(wěn)固;  6、升溫速率一般情況下選擇(10-20)℃∕min。過大很使曲線產(chǎn)生漂移,降低分辨力;過小測定時間長;  7、差熱分析儀的表面應(yīng)保持清潔、干燥、避免水或其它腐蝕性液體流進(jìn)機(jī)器內(nèi)部,以免損傷內(nèi)部零件或銹蝕外表面,外表面一旦落上灰塵或粘上水分,應(yīng)用軟布輕輕檫試干凈,禁止觸碰加熱電偶及線路接頭;  8、實驗區(qū)污染嚴(yán)重時,可以將溫度設(shè)置為700℃、速率設(shè)為20℃∕min、恒溫設(shè)為30min按RUN鍵;  9、電源:AC220V50Hz、功耗>2000W;  10、不得使用硬物清潔樣品托及試驗區(qū),以免對儀器造成永久性損害;  11、儀器連接計算機(jī)的數(shù)據(jù)線為232串口線,兩端為九孔插頭。其中兩端插頭以一對一的方式連接,即:一端的第一腳連接至另一端的第一腳,一端的第二腳連接另一端的第二腳,以此類推。

標(biāo)簽: 差熱分析儀
差熱分析儀 差熱分析儀適用須謹(jǐn)慎_差熱分析儀
分析儀器調(diào)試或維修常用手法

  分析儀器在使用過程中也會出現(xiàn)一定的故障問題,會導(dǎo)致分析儀器產(chǎn)品無法正常使用,那么這個時候分析儀器的檢修該如何進(jìn)行呢?

  1、觀察法

  通過人的眼睛主觀察、發(fā)現(xiàn)故障的方法稱為觀察法。該方法主要用于檢查零件變質(zhì)損壞、電路板漏焊、虛焊、線間的短路饒焦、斷線和元器件焊錯等。

  2、觸模法

  通過人的手指或其他部位去觸模元器件,從而發(fā)現(xiàn)元器件是否有過熱或應(yīng)該發(fā)熱而不熱的現(xiàn)象如電源變壓器及電子管等應(yīng)該有發(fā)熱現(xiàn)象、,從而間接地判斷故障部位的方法,稱為觸授法。

  3、靜態(tài)測量法

  這主要是通過萬用表去測量線路中的直流工作電壓相電流,從而確定故障。遲是排除故障常用的—種方法,它對于測試線性電路尤為重要。

  4、動態(tài)觀察法

  通過示按器去觀察有關(guān)點的波形,從而尋找故障相排除故障的方法稱為動態(tài)觀實法。

  5、跟蹤法

  在尋找故障的過程中發(fā)現(xiàn)一點線索,順著線索追查下去的方法稱為跟蹤法。

  6、分割法

  在查找故障的過程中,通過拔掉部分轉(zhuǎn)括、拔下部分電路板或在電路板上斷線來逐步縮小故障的范圍,最后把故障點孤立出來的方法,稱為分割法。

  7、替換法

  通過更換電細(xì)線、電路板、電子管或其他每部件,以確定故障在某一范圍的方法稱為替換法。

  8、模擬法

  在查尋故障過程中,可通過分別測試無故障儀器和行故陽儀器的相同點,將所得的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較來確定故障的方法,稱為模擬法。

  9、試探法

  在查尋故障的過程中,如經(jīng)測量和分析,幾種原因都能造成此種故障,那么此時,可先試探用一種方法去排除故障,如無效,再改用另一種方法試探去排除故障,這稱為試探法。

  10、局部受熱法

  儀器由于濕度升高而發(fā)生故障,通常用局部受熱泌夫排除。比如,其一儀器在溫度40℃時,不能正常工作,而溫度降低后又能正常工作。此隊可將儀器恢復(fù)在常溫下工他用電熱吹風(fēng)機(jī)或電烙鐵使其局部受池從而發(fā)現(xiàn)故障所在,這稱為局部受熱法。

  以上這些方法只是分析儀器調(diào)試或維修中的一些常用方法,實際應(yīng)用時彼此間并不是孤立的,有時需要幾種方法交錯使用,對測試結(jié)果進(jìn)行綜合分析,才能做出正確的判斷。

標(biāo)簽: 分析儀器
分析儀器 分析儀器調(diào)試或維修常用手法_分析儀器

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