測厚儀英文名稱為thicknessgauge，是一類用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。那么我們常見的幾種測厚儀的工作原理是什么？下面就來了解下：
1、激光測厚儀
激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。
2、X射線測厚儀
X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當X射線穿透被測材料時，X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
3、超聲波測厚儀
超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來對物體厚度進行測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖會發(fā)生反射而返回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間，來計算被測材料的厚度。
4、涂層測厚儀
涂層測厚儀：主要采用的是電磁感應法來測量涂層的厚度。涂層測厚儀會在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個閉合的磁回路，伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會發(fā)生不同程度的改變，因此會引起磁阻及探頭線圈電感的變化。
使用超聲波測厚儀測量鑄件材料時，因鑄件材料其特殊性，晶粒比較大，組織不夠緊密，再加上往往處于毛面狀態(tài)就進行測量，因此使測量遇到較大的困難。
首先是晶粒的粗大和組織不緊密性造成聲能的極大衰減，衰減是由材料對聲能的散射和吸收造成的。衰減的程度與晶粒尺寸和超聲頻率是有密切關(guān)系的，相同頻率下衰減隨晶粒直徑的增大而增大，但有一最高點，超過這一點，晶粒直徑再增大，衰減基本趨于一固定值。對于不同頻率的衰減隨頻率的增大而增大。
其次，由于晶粒粗大和鑄造中存在粗大異相組織時，將產(chǎn)生異常反射，即草狀回波或樹狀回波，使測厚出現(xiàn)錯誤讀數(shù)，造成誤判。
另外，隨著晶粒的粗大，金屬結(jié)晶方向上的彈性各向異性表現(xiàn)得更為顯著，從而使不同方向上的聲速造成差異，最大差異甚至可達5.5%。而且工件內(nèi)不同位置上組織的致密性也不一致，這也將造成聲速的差異。這些都將產(chǎn)生測量的不準確。因此對鑄件測量要特別小心。對鑄件測量時應注意：
在測量表面不加工的鑄件時，必須采用粘度較大的機油、黃油和水玻璃作耦合劑?？梢杂门c待測物相同的材料，測量方向與待測物也相同的標準試塊校準材料的聲速。必要時可進行兩點校準。
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