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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量的因素有哪些 測(cè)厚儀常見(jiàn)問(wèn)題解決方法

時(shí)間:2020-07-25    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬體。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
 
影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量的因素有哪些?
 
1、基體金屬磁性
 
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響,應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
 
2、基體金屬厚度
 
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
 
3、邊緣效應(yīng)
 
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
 
4、曲率
 
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
 
5、表面粗糙度
 
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試片上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層,在校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
 
6、磁場(chǎng)
 
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)量厚度的工作。
 
7、探頭壓力和位置
 
探頭置于試件上施加的壓力的大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。
 
8、讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不完全相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量。表面粗糙是更應(yīng)如此。
選擇測(cè)厚儀的基本原因

  即使相同的涂層測(cè)厚儀,不同的人或?qū)Σ煌N類(lèi)、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來(lái)的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別,這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的。

  使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說(shuō)明書(shū),不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同,因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說(shuō)明書(shū),避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。

  注意金屬基體材質(zhì):

  不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

  注意檢測(cè)試件形狀:

  在實(shí)際生產(chǎn)中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠,實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時(shí)考慮了最小曲率半徑,測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。

  以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮最小曲率半徑、最小測(cè)量面積、最小基體厚度的原因。

標(biāo)簽: 測(cè)厚儀
測(cè)厚儀標(biāo)簽: 選擇測(cè)厚儀的基本原因_測(cè)厚儀組合標(biāo)題:
測(cè)厚儀示值過(guò)大或過(guò)小的原因

  儀器示值過(guò)大或過(guò)小原因分析在實(shí)際檢測(cè)工作中,經(jīng)常碰到測(cè)厚儀示值與設(shè)計(jì)值或預(yù)期值)相比,明顯偏大或偏小,原因分析如下:  1、層疊材料、復(fù)合非均質(zhì))材料  要測(cè)量未經(jīng)耦合的層疊材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的空間,而且不能在復(fù)合非均質(zhì))材料中勻速傳播。對(duì)于由多層材料包扎制成的設(shè)備像尿素高壓設(shè)備),測(cè)厚時(shí)要特別注意,測(cè)厚儀的示值僅表示與探頭接觸的那層材料厚度?! ?i>2、溫度的影響  一般固體材料中的聲速隨其溫度升高而降低,有試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,熱態(tài)材料每增加100°C,聲速下降1%。對(duì)于高溫在役設(shè)備常常碰到這種情況。  3、聲速選擇錯(cuò)誤  測(cè)量工件前,根據(jù)材料種類(lèi)預(yù)置其聲速或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)塊反測(cè)出聲速。當(dāng)用一種材料校正儀器后常用試塊為鋼)又去測(cè)量另一種材料時(shí),將產(chǎn)生錯(cuò)誤的結(jié)果?! ?i>4、耦合劑的影響  耦合劑是用來(lái)排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類(lèi)或使用方法不當(dāng),將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍,無(wú)法測(cè)量。實(shí)際使用中由于耦合劑使用過(guò)多,造成探頭離開(kāi)工件時(shí),儀器示值為耦合劑層厚度值?! ?i>5、被測(cè)物體如管道)內(nèi)有沉積物  當(dāng)沉積物與工件聲阻抗相差不大時(shí),測(cè)厚儀顯示值為壁厚加沉積物厚度?! ?i>6、金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響  金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無(wú)名顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,從而造成誤差,且隨覆蓋物厚度不同,誤差大小也不同?! ?i>7、當(dāng)材料內(nèi)部存在缺陷如夾雜、夾層等)時(shí)  顯示值約為公稱(chēng)厚度的70%此時(shí)要用超聲波探傷儀進(jìn)一步進(jìn)行缺陷檢測(cè))?!?i> 8、應(yīng)力的影響  在役設(shè)備、管道大部分有應(yīng)力存在,固體材料的應(yīng)力狀況對(duì)聲速有一定的影響,當(dāng)應(yīng)力方向與傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓應(yīng)力,則應(yīng)力作用使工件彈性增加,聲速加快;反之,若應(yīng)力為拉應(yīng)力,則聲速減慢。當(dāng)應(yīng)力與波的傳播方向不一至?xí)r,波動(dòng)過(guò)程中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)軌跡受應(yīng)力干擾,波的傳播方向產(chǎn)生偏離。根據(jù)資料表明,一般應(yīng)力增加,聲速緩慢增加。

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測(cè)厚儀 測(cè)厚儀示值過(guò)大或過(guò)小的原因_測(cè)厚儀

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