空負(fù)載測(cè)試儀用于對(duì)各種變壓器的空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一系列參數(shù)可進(jìn)行精密的測(cè)量；
運(yùn)用傅立葉變換技術(shù)、諧波分析和數(shù)字濾波等抗干擾方法，使測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
空負(fù)載測(cè)試儀的特點(diǎn)
可測(cè)量各種類型的變壓器的空載電流、空載損耗、阻抗電壓、負(fù)載損耗、零序阻抗。
可自動(dòng)進(jìn)行溫度校正，電壓校正(非額定電壓下的空載試驗(yàn))，電流校正(非額定電流條件下的短路試驗(yàn))；
直阻校正，操作人員只需根據(jù)變壓器類型輸入校正指數(shù)儀器即可自動(dòng)計(jì)算出校正后的結(jié)果。
電壓回路寬量限：電壓最大可測(cè)量到750V，不用切換檔位即可保證精度。不會(huì)因電壓檔位選錯(cuò)而對(duì)儀器本身有所損壞。
大屏幕、全漢字菜單及操作提示實(shí)現(xiàn)友好的人機(jī)對(duì)話，高亮度的液晶顯示，可適應(yīng)冬夏各季。
用戶可隨時(shí)將測(cè)試的數(shù)據(jù)通過微型打印機(jī)將結(jié)果打印出來。
所有的測(cè)試結(jié)果可以記錄的形式保存起來，以備查閱。
參數(shù)：
電壓測(cè)量范圍：0～750V寬量限。
電流測(cè)量范圍：0～100A自動(dòng)切換量程。
測(cè)量精度：電壓：±0.2%
電流：±0.5%
功率因數(shù)：±0.5%(CosΦ>0.1)
±1.0%(0.02
外形尺寸：320×260×135(mm)
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一、測(cè)試電壓范圍
一般交流耐壓測(cè)試儀測(cè)試電壓的輸出范圍有3KV、5KV至20KV不等，直流耐壓測(cè)試儀的輸出電壓在5-6KV或12KV不等，用戶應(yīng)該根據(jù)產(chǎn)品的類別不同，在產(chǎn)品的測(cè)試電壓相對(duì)應(yīng)的安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)里進(jìn)行辨別。一般而言選擇交流5KV和直流6KV的耐壓測(cè)試儀就可以滿足需求，某些特殊檢測(cè)機(jī)構(gòu)未來了適應(yīng)不同產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求，會(huì)用到10KV或20KV的交流或直流電壓。這需要根據(jù)買家的需求來確定。
二、耐壓測(cè)試類型
例行性測(cè)試是根據(jù)不同的產(chǎn)品來選擇進(jìn)行交流耐壓測(cè)試或者直流耐壓測(cè)試，因此必須考慮耐壓測(cè)試的頻率是否與被測(cè)物頻率一致，這就要求耐壓測(cè)試儀可以靈活的選擇交流電壓頻率。好在國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的耐壓測(cè)試儀一般都可以滿足這點(diǎn)需求。
三、電壓緩升功能
在安全規(guī)范中，對(duì)于測(cè)試電壓的輸出特性有如下描述：試驗(yàn)初始，施加的電壓不超過規(guī)定電壓值的一半，然后逐漸地升高到滿值。就是說電壓不可以突然加到被測(cè)物上面，需要有一個(gè)緩升的過程。因此國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的耐壓測(cè)試儀必須具有緩升功能，在緩升過程中一旦發(fā)現(xiàn)異常，儀器就該停止輸出。
其實(shí)上面講解的這幾點(diǎn)在安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)中都有詳細(xì)規(guī)定，想要選擇國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的耐壓測(cè)試儀的朋友們?nèi)粲X得本文講解的不夠深入可自行研究安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)。
隨著元器件測(cè)試市場(chǎng)的需求，熱循環(huán)測(cè)試儀的推動(dòng)也在不斷進(jìn)步，熱循環(huán)測(cè)試儀的性能也在不斷的進(jìn)步；
那么，對(duì)于熱循環(huán)測(cè)試儀，以前不太關(guān)注的話，現(xiàn)在也必須考慮好。
熱循環(huán)測(cè)試儀電性優(yōu)化的目的，本質(zhì)上來說就是提升傳輸效率，減少傳輸損耗。過去我們優(yōu)化設(shè)計(jì)主要著眼于系統(tǒng)和PCB這個(gè)級(jí)別，很少觸及到封裝和芯片。
這個(gè)級(jí)別的仿真優(yōu)化，主要集中在器件引腳、過孔、接插件等結(jié)構(gòu)不連續(xù)的地方。
熱循環(huán)測(cè)試儀中芯片封裝是芯片到PCB的過渡，這里的信號(hào)傳輸路徑處處存在著不連續(xù)，優(yōu)化這些結(jié)構(gòu)上的不連續(xù)點(diǎn)，使其保持電性上的連續(xù)，減少信號(hào)的反射，就是封裝SI優(yōu)化的目的。
熱循環(huán)測(cè)試儀的優(yōu)化，主要涉及到信號(hào)和回流地的布置，金線的長(zhǎng)度、直徑、線型、線數(shù)等。這里只對(duì)其他幾個(gè)參數(shù)再做討論。
熱循環(huán)測(cè)試儀從芯片鍵合到載板，端口1設(shè)在芯片端，CPW結(jié)構(gòu)，阻抗50Ohm，端口2設(shè)在載板端，GCPW結(jié)構(gòu)，阻抗50Ohm，分別調(diào)整線徑，線型、線數(shù)三個(gè)因子，仿真頻率掃描0～40Ghz，后處理對(duì)比S21和S11參數(shù)。
熱循環(huán)測(cè)試儀金線直徑越大，傳輸特性越好，鍵合線弧度越低，傳輸特性越好，雙線鍵合，傳輸特性優(yōu)于單線鍵合。
對(duì)于高頻應(yīng)用，僅僅通過調(diào)整以上參數(shù)來優(yōu)化傳輸特性，依然滿足不了應(yīng)用，鍵合線匹配就派上了用場(chǎng)。
由于整個(gè)鍵合結(jié)構(gòu)在一定頻率范圍內(nèi)可以等效為電感，這樣我們就可根據(jù)射頻理論進(jìn)行阻抗匹配。
對(duì)比鍵合線匹配前后的傳輸特性，可以看出匹配在感興趣的頻段內(nèi)，大大的優(yōu)化了傳輸特性。
對(duì)于熱循環(huán)測(cè)試儀的性能，討論了其相關(guān)使用以及配置之后，對(duì)于熱循環(huán)測(cè)試儀相關(guān)特點(diǎn)了解之后再進(jìn)行使用比較好。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系刪除，謝謝。）
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