便攜式膜厚儀的測量原理
便攜式膜厚儀根據(jù)探頭類型的不同,采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型探頭采用磁性法,可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。N型探頭采用渦流法,可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。
便攜式膜厚儀是便攜式、快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。配置不同的探頭,適用于不同場合。
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膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備,它在平時的使用中對于精準(zhǔn)度的要求很高,但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生,除了儀器本身的一些故障以外,環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”,本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明: 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)?! ?、基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)?! ?、基體金屬厚度 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響?! ?、邊緣效應(yīng) 本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的?! ?、曲率 試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的?! ?、試件的變形 測量頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)?! ?、表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點?! ?、磁場 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作?! ?、附著物質(zhì) 本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸?! ?0、測量頭壓力 測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,要保持壓力恒定。 11、測量頭的取向 測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直?! ∑鋵嵢魏我环N設(shè)備儀器都會有影響誤差,尤其對于比較精密的儀器,所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響,提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。
膜厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
選購膜厚儀時要考慮哪些方面呢?
1、塑料上的銅、鉻層:建議用庫侖法測厚儀(會破壞鍍層)或X射線測厚儀,如銅層在10m~200m可考慮電渦流法測厚儀。
2、金屬件上鍍鋅層:如在鋼鐵基體上應(yīng)使用經(jīng)濟的磁感應(yīng)法測厚儀。其它金屬基體用庫侖法測厚儀或X射線測厚儀。
3、鐵基體上的電泳漆,油漆應(yīng)使用經(jīng)濟的磁感應(yīng)法測厚儀(無損測量)。其它金屬基體上的電泳漆,油漆應(yīng)使用經(jīng)濟的電渦流法測厚儀。
4、干膜是指己固化了的油漆涂層。
在進行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
試件的曲率對測量有影響,因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。