尼克斯測(cè)厚儀參數(shù)：
■用于QNIX4200涂鍍層測(cè)厚儀型。
■測(cè)量范圍: 0-3000um。
■測(cè)量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100。
■zui小測(cè)量面積: 10x10mm。
■zui小曲率: 凸半徑 5mm。
■凹半徑 25mm。
■zui小基材厚度:0.2mm。
■溫度范圍: 0-60度。
■顯示: LCD。
■供電形式: 2個(gè)1.5V電池。
■體積: 100X60X27mm。
■重量: 約110克。
點(diǎn)擊搜索茶葉篩分機(jī)
尼克斯測(cè)厚儀紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
尼克斯測(cè)厚儀采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的優(yōu)越和提高。
尼克斯測(cè)厚儀零位穩(wěn)定：
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
尼克斯測(cè)厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
尼克斯測(cè)厚儀溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
尼克斯測(cè)厚儀用途：
該產(chǎn)品測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等。
功能：
▲具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
▲操作過程有蜂鳴聲提示。
▲有欠壓指示功能。
▲有錯(cuò)誤提示功能。
▲可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及全量程校準(zhǔn)。
▲紅寶石防磨探頭。
▲可對(duì)探頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
參數(shù)：
▲測(cè)量原理：磁性法
▲測(cè)量范圍：1～1250μm
▲測(cè)量準(zhǔn)確度：±[（1～3）%H 1] μm（全量程校準(zhǔn)）
▲分辨率：1μm
▲工件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5 / 凹 10 ；
▲接觸zui小面積直徑10（mm） ；
▲基體臨街厚度（mm） 0.3
▲使用環(huán)境：溫度 0-40攝氏度；
▲濕度 20%-75% ； 無磁場(chǎng)環(huán)境
▲電源：四節(jié)1.5伏AAA電池
▲外形尺寸：112 ×69×28mm
▲重量：82 g（不含電池）
簡(jiǎn)介：
該儀器采用了磁感應(yīng)測(cè)厚法，是一種超小型測(cè)量?jī)x，可無損地測(cè)量磁性金屬基體（ 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 ）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、鋅、錫、琺瑯、橡膠、塑料、油漆等）可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小，測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量；該儀器堅(jiān)固耐用、用途廣泛，可單手操作。
特點(diǎn)：
儀器小型緊湊、堅(jiān)固耐用、用途廣泛，可單手操作。該設(shè)計(jì)便攜耐用，使其能在苛刻條件下正常使用。所有測(cè)厚儀具有先進(jìn)的一鍵操作功能，無須校準(zhǔn)，也不用重設(shè)即可進(jìn)行下一次測(cè)量，無需對(duì)操作人員進(jìn)行培訓(xùn)即可操作。
配置：
主機(jī)（內(nèi)置探頭）、標(biāo)準(zhǔn)片組、七號(hào)電池、操作指南、鐵基底材、掛繩、儀器箱等。
涂層測(cè)厚儀 影響測(cè)量精度的因素說明
a)基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b)基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c)基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d)邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e)曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f)試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g)表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g)磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h)附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i)測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j)測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
超聲測(cè)厚儀按工作原理分：共振法、干涉法及脈沖反射法等。
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