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尼克斯測厚儀用途 測厚儀如何做好保養(yǎng)

時間:2020-09-10    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     

尼克斯測厚儀用途:
該產(chǎn)品測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層,如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等。

 

尼克斯測厚儀參數(shù):
■用于QNIX4200涂鍍層測厚儀型。
■測量范圍: 0-3000um。
■測量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100。
■zui小測量面積: 10x10mm。
■zui小曲率: 凸半徑 5mm。
■凹半徑 25mm。
■zui小基材厚度:0.2mm。
■溫度范圍: 0-60度。
■顯示: LCD。
■供電形式: 2個1.5V電池。
■體積: 100X60X27mm。
■重量: 約110克。

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尼克斯測厚儀紅寶石探頭:
探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會帶來很大的誤差。

 

尼克斯測厚儀采樣技術:
使得測量重復性較傳統(tǒng)交流技術有無可比擬的優(yōu)越和提高。

 

尼克斯測厚儀零位穩(wěn)定:
所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后,可以長時間保持零位不漂移,確保準確測量。

 

尼克斯測厚儀無需校準:
多數(shù)測厚儀除了校零外,還需要用標準片進行調(diào)校。測量某一范圍厚度,要用某一范圍的標準片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會因標準片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。

 

尼克斯測厚儀溫度補償:
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術,以保證不同溫度下的測量精度。

 

 

符合標準:
◆GB/T 4956─1985 磁性方法。
◆JJG 818-95 《磁阻法測厚儀》。
◆JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀。

 

特點:
◆采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性 覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等) 。
◆可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正。
◆具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。
◆具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl) 。
◆具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
◆設有五個統(tǒng)計量:平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差。
◆具有米、英制轉(zhuǎn)換功能。
◆具有打印功能,可打印測量值、統(tǒng)計值。
◆具有欠壓指示功能。
◆操作過程有蜂鳴聲提示。
◆具有錯誤提示功能。
◆具有自動關機功能。

 

簡介:
該測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)必備的儀器。

 

參數(shù):
◆測頭類型: F/ N。
◆測量原理: 磁感應/電渦流。
◆測量范圍: 0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)。
◆探頭連接方式: 一體化。
◆示值誤差: 一點校準(um) ±[3%H 1]/ ±[3%H 1.5]。
◆兩點校準(um) :±[(1~3)%H 1]/ ±[(1%~3%)H 1.5]。
◆測量條件 :zui小曲率半徑(mm) 凸1.5 凹9/凸3 凹10。
◆基體zui小面積的直徑(mm): ф7/ф5。
◆zui小臨界厚度(mm) :0.5/0.3。
◆濕度:0~40℃。
◆工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。
◆測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。
◆上下限設置 :有。
◆存儲能力 :500 個測量值。
◆打印/連接計算機: 可選配打印機/不能連接電腦。
◆關機方式 :手動和自動。
◆電源 :二節(jié)AAA型(7號)1.5V電池。
◆外形尺寸: 110×50×23mm。
◆重量:100g。

 

基本配置:
◆主機:1
◆標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um) 1
◆鐵基體和鋁基體 1
◆AAA型(7號)1.5V電池 2
◆儀器保護套 。

無損檢測技術是一門理論上綜合性較強,又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。

  在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法,這樣,便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念,我們稱之為“覆層”。

  覆層的厚度測量已成為金屬加工業(yè)用戶進行成品質(zhì)量檢測必備的較為重要的工序。是產(chǎn)品達到優(yōu)質(zhì)標準的必備手段。目前,國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國際標準測定涂鍍層厚度,覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關重要。

  有關覆層無損檢測方法,主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

  X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍小。因有放射源,故使用者必須遵守射線防護規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。

  電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。

  磁性測量法及渦流測量法。隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微處理機技術后,測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可達到1%。又有適用范圍廣,量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。

  采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。以下分別介紹幾種常規(guī)測厚的方法。

  測量原理

  一、磁吸力原理測厚儀

  利用永久磁鐵測頭與導磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系可測量覆層的厚度,這個距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可以進行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形,所以磁性測厚儀應用廣泛。測量儀基本結(jié)構是磁鋼,拉簧,標尺及自停機構。當磁鋼與被測物吸合后,有一個彈簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大,當拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來講,依不同的型號又不同的量程與適應場合。在一個約350º角度內(nèi)可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆層厚度,精度可達 5%以上,能滿足工業(yè)應用的一般要求。這種儀器的特點是操作簡單、強固耐用、不用電源和測量前的校準,價格也較低,很適合車間作現(xiàn)場質(zhì)量控制。

  二、磁感應原理測厚儀

  磁感應原理是利用測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。由于是電子儀器,校準容易,可以實多種功能,擴大量程,提高精度,由于測試條件可降低許多,故比磁吸力式應用領域更廣。

  當軟鐵芯上繞著線圈的測頭放在被測物上后,儀器自動輸出測試電流,磁通的大小影響到感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示,精度和重復性都不好,后來發(fā)展了數(shù)字顯示式,電路設計也日趨完善。近年來引入微處理機技術及電子開關,穩(wěn)頻等較新技術,多種獲專利的產(chǎn)品相繼問世,精度有了很大的提高,達到1%,分辨率達到0.1µm,磁感應測厚儀的測頭多采用軟鋼做導磁鐵芯,線圈電流的頻率不高,以降低渦流效應的影響,測頭具有溫度補償功能。由于儀器已智能化,可以辨識不同的測頭,配合不同的軟件及自動改變測頭電流和頻率。一臺儀器能配合多種測頭,也可以用同一臺儀器??梢哉f,適用于工業(yè)生產(chǎn)及科學研究的儀器已達到了了非常實用化的階段。

  利用電磁原理研制的測厚儀,原則上適用所有非導磁覆層測量,一般要求基本的磁導率達500以上。覆層材料如也是磁性的,則要求與基材的磁導率有足夠大的差距(如鋼上鍍鎳層)。磁性原理測厚儀可以應用在精確測量鋼鐵表面的油漆涂層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。對于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產(chǎn)工業(yè),利用測量平臺或輥(鋼鐵制造)也可用來實現(xiàn)大面積上任一點的測量。

  三、電渦流原理測厚儀

  電渦流測厚法主要應用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測量。利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場,將探頭靠近導電的金屬體時,就在金屬材料中形成渦流,且隨與金屬體的距離減小而增大,該渦流會影響探頭線圈的磁通,故此反饋作用量是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值,因為該測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度,所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。非磁性測頭一般采用高頻高導磁材料做線圈鐵芯,常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測量原理比較,他們的電原理基本一樣,主要區(qū)別是測頭不同,測試電流的頻率大小不同,信號大小、標度關系不同。在較新的測厚儀中,通過不斷改進測頭結(jié)構,在配合微電腦技術,由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件,終于使兩種不同類型的的測頭接與同一臺測厚儀上,降低了用戶負擔,基于同一思想,可配接達10種側(cè)頭的測厚儀極大地擴展了測厚范圍(達10萬倍以上),可測包括導磁材料表面上的非導磁覆層,導電材料上的非導電覆層及不導電材料上的導電層,基本上滿足了工業(yè)生產(chǎn)多數(shù)行業(yè)的需要。

  采用電渦流原理的測厚儀,原則上所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導電層。覆層材料也可以有一定的導電性,通過校準同樣也可以測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3~5倍以上(如銅上鍍鉻)。

  校準的原則是沒有覆層的校準試樣與被測物的基材應有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的最小值約0.5mm以下時),有相同的曲率半徑,如被測面積小于儀器技術參數(shù)的要求(直徑約20mm以下),還應有相同的被測面積。如覆層含有導電成份,校準試樣的覆層也應與被測物的覆層有相同的導電性能。校準試樣的覆層經(jīng)過其它(包括有損測試方法)測試后標定厚度或用已標定的校準薄片做覆層,就可以在其上面按說明書的方法校準測厚儀。校準后就可以在被測產(chǎn)品上進行快速無損檢測。校準薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過的硬紙。

  微電腦測厚一般有多個校準值存貯。隨著被測產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測頭等均可分別校準并存貯。實際使用時直接調(diào)用各校準值,就無須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準”。大大提高了檢測效率。

  測試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)供分析,還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設置了上下極限還可以使統(tǒng)計數(shù)據(jù)更加準確,測量時所有超限的點都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計計算用。

  影響測量值的因素與解決方法

  使用測厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的,所以,被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。

  1. 邊界間距

  如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)е聹y量誤差。如必須測量該點的覆層厚度,只有預先在相同條件的無覆層表面進行校準,才能測量。(注:較新的產(chǎn)品有透過覆層校準的獨特功能可達3~10%的精度)

  2. 基體表面曲率

  在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值,然后在測量覆層厚度后減去這個初始值。或參照下條。

  3. 基體金屬最小厚度

  基體金屬必須有一個給定的最小厚度,使探頭的電磁場能完全包容在基體金屬中,最小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關,在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀,如前所述。

  4. 表面粗糙度和表面清潔度

  在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì),則應予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點”。

  5. 探頭測量時的作用力

  探頭測量時的作用力應是恒定的。并應盡可能小,才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測量值下降或產(chǎn)生大的波動。必要時,可在兩者之間墊一層不導電的、一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當?shù)氐玫绞4拧?/P>

  6. 外界恒磁場、電磁場和基體剩磁

  應該避免在有干擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差,但是如結(jié)構鋼,深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。

  7. 覆層材料中的鐵磁成份和導電成份

  覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時,會對測量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。

測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。常用來連續(xù)或抽樣測量厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。

介紹

測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度,并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng),以實現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制(AGC)。

主要類型

用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在檢修時測量其厚度,以便了解材料的厚薄規(guī)格,各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度。根據(jù)測定原理,常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。

脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構尺寸等。測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導體收音機相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材,大測定厚度達2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。

 

磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時,測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

 

渦流測厚儀當載有電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)發(fā)生渦流,此渦流發(fā)生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

 

測厚儀可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。。

使用注意事項

測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法。

 

測量注意事項:

 

⒈在進行測試的時候要注意片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

 

⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

 

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

 

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

 

⒌測量前要注意周圍其他的電器會不會發(fā)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。

 

⒍測量時要注意不要在轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

 

⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。

 

⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

 

本段應用

1、激光測厚儀是利用反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機械中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值。

 

2、是非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

 

3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

 

4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度好,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等點。

 

5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

 




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