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無損檢測(cè)的方法和覆層測(cè)厚儀 測(cè)厚儀是如何工作的

時(shí)間:2020-08-04    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
無損檢測(cè)的方法和覆層測(cè)厚儀 無損檢測(cè)技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng),又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法,這樣,便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念,我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)必備的較為重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。目前,國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度,覆層無損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。有關(guān)覆層無損檢測(cè)方法,主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。 X射線和β射線反射法可以無接觸無損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍小。因有放射源,故,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法,隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來引入微處理機(jī)技術(shù)后,測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm,精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。采用無損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測(cè)速度快,故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。以下分別介紹幾種常規(guī)測(cè)厚的方法。 磁性測(cè)量原理一、磁吸力原理測(cè)厚儀利用永久磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度,這個(gè)距離就是覆層的厚度,所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可以進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣泛。測(cè)量?jī)x基本結(jié)構(gòu)是磁鋼,拉簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)。當(dāng)磁鋼與被測(cè)物吸合后,有一個(gè)彈簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大,當(dāng)拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來講,依不同的型號(hào)又不同的量程與適應(yīng)場(chǎng)合。在一個(gè)約350º角度內(nèi)可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆層厚度,精度可達(dá)5%以上,能滿足工業(yè)應(yīng)用的一般要求。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、強(qiáng)固耐用、不用電源和測(cè)量前的校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間作現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。二、磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來測(cè)定覆層厚度的,覆層愈厚,磁通愈小。由于是電子儀器,校準(zhǔn)容易,可以實(shí)多種功能,擴(kuò)大量程,提高精度,由于測(cè)試條件可降低許多,故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)物上后,儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流,磁通的大小影響到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示,精度和重復(fù)性都不好,后來發(fā)展了數(shù)字顯示式,電路設(shè)計(jì)也日趨完善。近年來引入微處理機(jī)技術(shù)及電子開關(guān),穩(wěn)頻等較新技術(shù),多種獲專利的產(chǎn)品相繼問世,精度有了很大的提高,達(dá)到1%,分辨率達(dá)到0.1µm,磁感應(yīng)測(cè)厚儀的測(cè)頭多采用軟鋼做導(dǎo)磁鐵芯,線圈電流的頻率不高,以降低渦流效應(yīng)的影響,測(cè)頭具有溫度補(bǔ)償功能。由于儀器已智能化,可以辨識(shí)不同的測(cè)頭,配合不同的軟件及自動(dòng)改變測(cè)頭電流和頻率。一臺(tái)儀器能配合多種測(cè)頭,也可以用同一臺(tái)儀器??梢哉f,適用于工業(yè)生產(chǎn)及科學(xué)研究的儀器已達(dá)到了了非常實(shí)用化的階段。利用電磁原理研制的測(cè)厚儀,原則上適用所有非導(dǎo)磁覆層測(cè)量, 一般要求基本的磁導(dǎo)率達(dá)500以上。覆層材料如也是磁性的,則要求與基材的磁導(dǎo)率有足夠大的差距(如鋼上鍍鎳層)。磁性原理測(cè)厚儀可以應(yīng)用在精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆涂層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,化工石油行業(yè)的各種防腐涂層。對(duì)于感光膠片、電容器紙、塑料、聚酯等薄膜生產(chǎn)工業(yè),利用測(cè)量平臺(tái)或輥(鋼鐵制造)也可用來實(shí)現(xiàn)大面積上任一點(diǎn)的測(cè)量。 三、電渦流原理測(cè)厚儀電渦流測(cè)厚法主要應(yīng)用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測(cè)量。利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),將探頭靠近導(dǎo)電的金屬體時(shí),就在金屬材料中形成渦流,且隨與金屬體的距離減小而增大,該渦流會(huì)影響探頭線圈的磁通,故此反饋?zhàn)饔昧渴潜硎咎筋^與基體金屬之間間距大小的一個(gè)量值,因?yàn)樵摐y(cè)頭用在非鐵磁金屬基體上測(cè)量覆層厚度,所以通常我們稱該測(cè)頭為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭一般采用高頻高導(dǎo)磁材料做線圈鐵芯,常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測(cè)量原理比較,他們的電原理基本一樣,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,測(cè)試電流的頻率大小不同,信號(hào)大小、標(biāo)度關(guān)系不同。在較新的測(cè)厚儀中,通過不斷改進(jìn)測(cè)頭結(jié)構(gòu),在配合微電腦技術(shù),由自動(dòng)識(shí)別不同測(cè)頭來調(diào)用不同的控制程序,分別輸出不同的測(cè)試電流和改變標(biāo)度變換軟件,終于使兩種不同類型的的測(cè)頭接與同一臺(tái)測(cè)厚儀上,降低了用戶負(fù)擔(dān),基于同一思想,可配接達(dá)10種側(cè)頭的測(cè)厚儀極大地?cái)U(kuò)展了測(cè)厚范圍(達(dá)10萬倍以上),可測(cè)包括導(dǎo)磁材料表面上的非導(dǎo)磁覆層,導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電覆層及不導(dǎo)電材料上的導(dǎo)電層,基本上滿足了工業(yè)生產(chǎn)多數(shù)行業(yè)的需要。采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3~5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準(zhǔn)的原則是沒有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的最小值約0.5mm以下時(shí)),有相同的曲率半徑,如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求(直徑約20mm以下),還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份,校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過其它(包括有損測(cè)試方法)測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層,就可以在其上面按說明書的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。校準(zhǔn)后就可以在被測(cè)產(chǎn)品上進(jìn)行快速無損檢測(cè)。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過的硬紙。微電腦測(cè)厚一般有多個(gè)校準(zhǔn)值存貯。隨著被測(cè)產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測(cè)頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調(diào)用各校準(zhǔn)值,就無須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”。大大提高了檢測(cè)效率。測(cè)試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)供分析,還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確,測(cè)量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計(jì)計(jì)算用。影響測(cè)量值的因素與解決方法使用測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來測(cè)量覆層厚度的,所以,被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性,下面就這方面的問題作一下介紹。 1. 邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預(yù)先在相同條件的無覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn),才能測(cè)量。(注:較新的產(chǎn)品有透過覆層校準(zhǔn)的獨(dú)特功能可達(dá)3~10%的精度) 2. 基體表面曲率在一個(gè)平直的對(duì)比試樣上校準(zhǔn)好一個(gè)初始值,然后在測(cè)量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。 3. 基體金屬最小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的最小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能完全包容在基體金屬中,最小厚度與測(cè)量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測(cè)量而不用對(duì)測(cè)量值修正。對(duì)于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對(duì)比來確定與額定值的差值。并且在測(cè)量中考慮這點(diǎn)而對(duì)測(cè)量值作相應(yīng)的修正或參考第2條修正。而那些可以標(biāo)定的儀器通過調(diào)整旋鈕或按鍵,便可以得到準(zhǔn)確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測(cè)銅箔厚度的測(cè)厚儀,如前所述。 4. 表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測(cè)量值必須進(jìn)行多次測(cè)量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測(cè)量值越不可靠。為獲得可靠的數(shù)據(jù),基體的平均粗糙度Ra應(yīng)小于覆層厚度的5%。而對(duì)于表面雜質(zhì),則應(yīng)予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。 5. 探頭測(cè)量板的作用力探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測(cè)量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導(dǎo)電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞4拧?6. 外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應(yīng)該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測(cè)量。殘存的剩磁,根據(jù)檢測(cè)器的性能可能導(dǎo)致或多或少的測(cè)量誤差,但是如結(jié)構(gòu)鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。 7. 覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)試樣。也可向有關(guān)計(jì)量測(cè)試部門購得
涂層測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)有哪些?

    涂層測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

 

    涂層測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn):

    1、零位穩(wěn)定:所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量。

    2、無需校準(zhǔn):

    多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。

    3、溫度補(bǔ)償:

    涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度。

    涂層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測(cè)儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

標(biāo)簽: 涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀標(biāo)簽: 涂層測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)有哪些?_涂層測(cè)厚儀組合標(biāo)題:
覆層測(cè)厚儀有哪些使用參數(shù)?

    覆層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量??蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》。

    覆層測(cè)厚儀參數(shù)

    測(cè)頭類型:F。

    測(cè)量原理:磁感應(yīng)。

    測(cè)量范圍:0-1250um。

    低限分辨力:1?m(10um以下為0.1um)。

    探頭連接方式:一體化。

    示值誤差:一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)±[3%H 1]。

    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um): ±[(1~3)%H 1]。

    測(cè)量條件:zui小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凹9。

    基體zui小面積的直徑(mm):ф7。

    zui小臨界厚度(mm):0.5。

    溫濕度:0~40℃,20%RH~90%RH。

    統(tǒng)計(jì)功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、

    標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。

    工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。

    測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)上下限設(shè)置。

    存儲(chǔ)能力:15 個(gè)測(cè)量值。

    打印/連接計(jì)算機(jī):可選配打印機(jī)/不能連接電腦。

    關(guān)機(jī)方式:自動(dòng)。

    電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池。

    外形尺寸:150×55.5×23mm。

    重量:150g。

    基本配置:主機(jī)。

    標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。

    鐵基體。

    充電器。

    可選附件。

    TA230打印機(jī)。

    覆層測(cè)厚儀基本原理

    本儀器采用了磁性測(cè)厚法,可無損傷地測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。  基本工作原理是:當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)。測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆層的厚度。

    覆層測(cè)厚儀基本配置

    TT220主機(jī) 一臺(tái)

    標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒

    標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊

    充電器 1個(gè)

    覆層測(cè)厚儀主要功能

    可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正:

    具有兩種測(cè)量方式地:連續(xù)測(cè)量方式(continue)和單次測(cè)量方式(single);

    具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;

    具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;

    設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值地(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);

    具有打印功能,或打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值;

    具有欠壓指示功能;

    操作過程有蜂鳴聲提示;

    具有錯(cuò)誤提示功能;

    具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。

    覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)

    測(cè)量速度快:測(cè)量速度比其它TT系列快6倍;

    精度高 :簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上為數(shù)不多能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高;

    穩(wěn)定性:測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品;

    功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

    涂層測(cè)厚儀的使用步驟

    正確裝上電池,注意電池極性。

    市場(chǎng)上流通的涂層測(cè)厚儀功能都簡(jiǎn)單,就是只能測(cè)厚度值,所以開機(jī)基本上都可以直接使用,不需要設(shè)置。

    測(cè)厚儀出廠的時(shí)候都附帶基準(zhǔn)片,基準(zhǔn)片是用來標(biāo)定的。當(dāng)數(shù)值不準(zhǔn)的時(shí)候要進(jìn)行數(shù)據(jù)校準(zhǔn)。

    在測(cè)量之前先測(cè)附帶的基準(zhǔn)片,如果數(shù)值都準(zhǔn)那就不需要再校準(zhǔn)。不準(zhǔn)的話就要進(jìn)行校準(zhǔn),各個(gè)廠家測(cè)厚儀的校準(zhǔn)步驟不一樣,按其說明書步驟進(jìn)行校準(zhǔn)即可。

    測(cè)量的時(shí)候,測(cè)厚儀的探頭要放平,放平測(cè)量才能得到精確的數(shù)值。

    鐵門的涂層厚度值。

    覆層測(cè)厚儀功能上采用了磁性測(cè)厚方法,可無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。

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覆層測(cè)厚儀 覆層測(cè)厚儀有哪些使用參數(shù)?_覆層測(cè)厚儀

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