在醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)、激光打印、激光打標(biāo)、激光焊接、激光切割以及光纖通信等多種激光應(yīng)用領(lǐng)域，光束質(zhì)量分析為激光器的有效使用提供了很多有價(jià)值的信息。在實(shí)際測(cè)量中，光束分析應(yīng)用廣泛。光束輪廓顯示了光束的全部空間特性，包括光束的傳播、光束質(zhì)量和光束的實(shí)用性。另外，它還可顯示如何高效地調(diào)整和修改激光器的輸出。光束輪廓在搭建激光打印機(jī)和光纖對(duì)準(zhǔn)的光學(xué)系統(tǒng)時(shí)非常有用，如果光束輪廓未知，那么激光將很難甚至不能投入使用。

光束分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域

1. 激光制造業(yè)

對(duì)于傳統(tǒng)的激光器制造商而言，光束質(zhì)量分析已成為標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)。均勻散射激光束的品質(zhì)由以下參數(shù)定義：衍射極限倍數(shù)因子M2，或它的倒數(shù)k因子。

M2或k因子給出了激光光束聚焦程度的理論測(cè)量方法。這對(duì)評(píng)價(jià)不同應(yīng)用領(lǐng)域的光束好壞非常重要。M2或k=1表示理想的衍射光束。換句話說(shuō)，它直接與波長(zhǎng)和透鏡系統(tǒng)的衍射極限相關(guān)，和激光本身沒(méi)有任何關(guān)系。

激光二極管和垂直腔面發(fā)射半導(dǎo)體激光器（VCSEL）都是半導(dǎo)體激光器，有著比近軸光束更大的發(fā)散角。從典型的激光腔中檢測(cè)這類(lèi)激光非常困難。通常重要參數(shù)包括：功率輸入-光強(qiáng)輸出曲線（稱(chēng)為L(zhǎng)I或LIV曲線）、光束的光譜以及發(fā)散角。由于半導(dǎo)體激光器的發(fā)散角較大，需要用透鏡聚焦得到可用光束。通過(guò)光束形狀和發(fā)散特性，能夠得出光學(xué)設(shè)計(jì)中設(shè)備的工作情況。LI曲線可以提供激光器的輸出效率，并能探測(cè)到二極管生產(chǎn)工藝中的任何瑕疵。二極管激光器的波長(zhǎng)由晶格的物理結(jié)構(gòu)以及它怎么構(gòu)成激光腔決定，因此，二極管激光器系統(tǒng)不僅需要測(cè)量LI曲線和發(fā)散角輪廓，還需要進(jìn)行光譜測(cè)試。

2. 醫(yī)學(xué)/生物技術(shù)領(lǐng)域

在醫(yī)學(xué)和生物技術(shù)行業(yè)，激光的應(yīng)用非常廣泛，從光手術(shù)刀到讀取DNA芯片遺傳密碼的掃描儀。這些應(yīng)用都需要對(duì)激光光束進(jìn)行整形和調(diào)整。光束分析儀直接檢測(cè)光束形狀，觀測(cè)光束能否達(dá)到期望值，如果不能，就需要進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)整。美國(guó)FDA和國(guó)家衛(wèi)生管理機(jī)構(gòu)對(duì)醫(yī)療器械的測(cè)試有嚴(yán)格的要求。符合“生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范”（GMP）和“非臨床研究質(zhì)量管理規(guī)范”（GLP）是最根本的要求。為保證醫(yī)療設(shè)備的性能，這兩個(gè)規(guī)范都要求進(jìn)行可重復(fù)和可追蹤測(cè)試。不管是Lasik眼科手術(shù)、腹腔鏡手術(shù)中使用的光手術(shù)刀，還是其他病人護(hù)理中的激光器，可追蹤、可校準(zhǔn)的光束分析儀對(duì)維護(hù)和校準(zhǔn)這些醫(yī)療激光系統(tǒng)都是非常必要的。

激光在生物技術(shù)中的應(yīng)用主要是基因組和蛋白質(zhì)組“芯片實(shí)驗(yàn)臺(tái)”探測(cè)器的掃描。這種系統(tǒng)使用激光光束識(shí)別（或“讀取”）DNA和RNA序列的積木式“字母”或蛋白質(zhì)的氨基酸成分。光斑質(zhì)量越好，采樣就越小。光束分析儀可以幫助對(duì)這一類(lèi)掃描儀進(jìn)行最后的微調(diào)。

3. 制圖和印刷工業(yè)

激光印刷工業(yè)比較早利用光束分析儀來(lái)設(shè)計(jì)和制造激光打印機(jī)的核心部分——激光掃描單元（LSU）。這需要了解系統(tǒng)的光斑尺寸、陣列以及光束擺動(dòng)對(duì)激光打印機(jī)的影響，并做進(jìn)一步的改進(jìn)。激光打印機(jī)行業(yè)的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)非常激烈，因此降低LSU的生產(chǎn)成本極為重要。盡管如此，每一個(gè)LSU都必須進(jìn)行調(diào)整和測(cè)試以確保正確運(yùn)行。常規(guī)的LSU測(cè)試時(shí)間大約需要20分鐘，一種新的儀器測(cè)量技術(shù)可以把測(cè)試時(shí)間減少到幾秒。LSU的生產(chǎn)能力由此增加了十倍以上，因此測(cè)試成本得到顯著降低。

4. 條形碼掃描和光存儲(chǔ)

條形碼掃描和光存儲(chǔ)技術(shù)利用激光光束讀寫(xiě)信息。與生物掃描技術(shù)和激光打印一樣，光束越小，讀寫(xiě)信息越精確。然而，為了讓掃描儀處在方便的工作距離范圍之內(nèi)，條形碼讀取器需要光束的操作范圍非常長(zhǎng)。光束的束腰區(qū)域的長(zhǎng)度稱(chēng)為瑞利范圍，就是光束直徑的 區(qū)域，這里D0稱(chēng)為光腰，或稱(chēng)為光束最小直徑。

光束分析儀的實(shí)時(shí)成像圖

光束分析儀可以直接測(cè)量和調(diào)整光束達(dá)到長(zhǎng)瑞利范圍，以保證掃描儀的良好性能。另一方面，對(duì)于光存儲(chǔ)，光束通常被優(yōu)化為一個(gè)非常小的光斑。光存儲(chǔ)激光器的焦點(diǎn)非常關(guān)鍵，因?yàn)楣獍叽笮『腿鹄秶煞幢取?

對(duì)于比較小的光斑，發(fā)散角必須足夠大；對(duì)于發(fā)散角較?。ū热玳L(zhǎng)瑞利范圍、準(zhǔn)直光束）的情況，光腰值必須大。

5. 焊接和切割領(lǐng)域

由于激光能在工件上發(fā)射精確的功率密度，大多數(shù)高功率焊接和切割激光器都利用了激光的這種精密性。為了保證使用過(guò)程中精度的持續(xù)性，監(jiān)控激光的性能非常重要?，F(xiàn)在通常所采用的處理方法是檢測(cè)瑕疵處，或者監(jiān)控未聚焦光束和推斷聚焦光束的性能。

但這兩種方法都不是較佳解決方案。首先，為了了解激光是否正常工作，需要浪費(fèi)材料和時(shí)間制造一個(gè)缺陷，有時(shí)缺陷還很難被探測(cè)到，只有在激光加工過(guò)程中才能被探測(cè)出來(lái)，這樣就產(chǎn)生了額外費(fèi)用，增加了廢棄和返工的可能。監(jiān)控最初的激光束的缺點(diǎn)是只檢測(cè)了激光器，而不是實(shí)際的光學(xué)系統(tǒng)，它不能告訴您下一步怎么處理半成品。通過(guò)設(shè)計(jì)合理的狹縫掃描光束分析儀，比如Photon公司的高功率NanoScan光束質(zhì)量分析儀，就可以測(cè)量光束在真實(shí)情況下的工作狀態(tài)。它可以精確地測(cè)量在工作臺(tái)上的光束直徑、形狀以及功率分布。提供光束直徑的數(shù)值、橢圓率，以及光斑質(zhì)心的位置。對(duì)激光器、聚焦系統(tǒng)和發(fā)散系統(tǒng)所出現(xiàn)的問(wèn)題都可以提前預(yù)警。

顯微顆粒圖像分析儀測(cè)試原理:

通過(guò)對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(zhǎng)徑比等，再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布等信息。

顯微顆粒圖像分析儀適用領(lǐng)域:

1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。

2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。

3、用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。

使用顆粒圖像分析時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng):

⒈取放顆粒圖像分析時(shí)動(dòng)作一定要輕，切忌震動(dòng)和暴力，否則會(huì)造成光軸偏斜而影響觀察，而且光學(xué)玻璃也容易損壞。

⒉由于物鏡的螺絲口容易損傷，安裝物鏡時(shí)要特別小心，即先向左方倒轉(zhuǎn)一小段，凹凸雙方吻合后再向右方旋轉(zhuǎn)，不要轉(zhuǎn)的太緊，輕輕捻到頭，再稍緊即可。

⒊鏡檢標(biāo)本應(yīng)嚴(yán)格按照操作程序進(jìn)行，觀察時(shí)要從低倍鏡開(kāi)始，看清標(biāo)本后再轉(zhuǎn)用高倍鏡、油鏡。

⒋使用油鏡時(shí)一定要在蓋玻片上滴油后才能使用。油鏡使用完后，應(yīng)立即將鏡頭、蓋玻片上的油擦干凈，否則干后不易擦去，以致?lián)p傷鏡頭和標(biāo)本。但應(yīng)注意二甲苯用量不可過(guò)多，否則，物鏡中的樹(shù)膠溶解，透鏡歪斜甚至脫落，蓋玻片移動(dòng)甚至連同標(biāo)本一起融掉。

⒌顆粒圖像分析使用時(shí)不可用手摸光學(xué)玻璃部分，如需擦拭應(yīng)嚴(yán)格按照光學(xué)部件擦拭辦法。

⒍顆粒圖像分析使用的蓋玻片和載玻片不能過(guò)厚或過(guò)薄。標(biāo)準(zhǔn)的蓋玻片為0.17±0.02毫米，載玻片為1.1±0.04毫米。過(guò)厚或過(guò)薄將會(huì)影響顯微鏡成像及觀察。