影響渦流涂鍍層測厚儀測量精度因素有哪些
影響渦流涂鍍層測厚儀測量精度因素有哪些?影響渦流涂鍍層測厚儀測量精度因素主要有以下幾點(diǎn):
(1) 覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應(yīng),即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應(yīng)清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時(shí)應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
測厚儀的主要類型有哪些
測厚儀用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時(shí)必須測量其厚度,以便了解材料的厚薄規(guī)格,各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時(shí)則要測定材料表面的覆蓋層厚度,以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。根據(jù)測定原理的不同,常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。
超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的,但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會被反射,測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間,即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材,大測定厚度達(dá)2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。
磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí),測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時(shí),由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理,可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。