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熒光光譜儀的特點(diǎn)有哪些 光譜儀如何做好保養(yǎng)

時(shí)間:2020-07-05    來源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
【導(dǎo)讀】X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。 熒光光譜儀的性能特點(diǎn): 1、專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等



    X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。


    熒光光譜儀的性能特點(diǎn):


    1、專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。


    2、電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。


    3、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍。


    4、抽真空樣品腔,有利于低含量輕元素的分析


    5、針對不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。


    6、任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型


    7、相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型


    8、多變量非線性回歸程序


    9、智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。


    該技術(shù)的主要特征為:


    利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時(shí)間短,大大提高了檢測效率和工作效率;


    采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比; 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的一致性;


    利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度;


    采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確,有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響;


    采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。


    熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等;


    以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析,對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金,結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。


    X熒光分析快速,某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。





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    紅外光譜儀維修常見故障及排査方法導(dǎo)讀:


    紅外光譜儀不能正常工作時(shí),可先啟動(dòng)儀器自診斷功能,檢查儀器某些器件工作狀況,或者根據(jù)儀器的異?,F(xiàn)象,參照儀器使用說明書進(jìn)行排查。


    若發(fā)現(xiàn)是光譜儀硬件損壞,應(yīng)請專業(yè)維修工程師來現(xiàn)場處理,若無法查出故障原因,也應(yīng)及早與維修工程師溝通,及時(shí)傳遞儀器的故障信息。


    以便工程師來現(xiàn)場維修之前能大概判定故障原因并準(zhǔn)備好所需的備品備件。


    如果故障原因不是硬件問題,可通過調(diào)整、重新設(shè)置光譜儀參數(shù)等技術(shù)操作解決的,可自行處理。


    下面為一些常見故障及排査方法。


    紅外光譜儀干涉圖能量低,導(dǎo)致信噪比不理想。


    可能原因:


    1.光路準(zhǔn)直未調(diào)節(jié)好或非智能紅外附件位置未調(diào)整到正確位置;


    2.紅外光源已損壞或能量已衰竭


    3.檢測器已損壞或MCT檢測器無液氮;


    4.分束器損壞;


    5.各種紅外反射鏡或紅外附件的鏡面太臟;


    6.光闌孔徑太小或信號增益倍數(shù)太小;


    7.圓光路中有衰減器。


    排除方法:


    1.啟動(dòng)光路自動(dòng)準(zhǔn)直程序,如果正在使用非智能紅外附件,則還需要人工準(zhǔn)直;


    2.更換紅外光源;


    3.請維修工程師檢查,必要時(shí)更換檢測器(檢測器損壞很有可能是由于受潮


    引起,因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥,對于MCT檢測器可添加液氮再重


    新檢查;


    4.請維修工程師檢查,必要時(shí)更換分束器(分束器損壞很可能是由于受潮引


    起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起,因此更換后應(yīng)注意保持儀器室的干燥,從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心);


    5.請維修工程師清洗;


    6.重新設(shè)置光闌孔徑或信號增益倍數(shù),使之處于適當(dāng)值;


    7.取下光路中的衰減器。


    紅外光譜儀光學(xué)臺未能工作,不能產(chǎn)生干涉圖:


    可能原因:


    1.分束器未固定好或已損壞;


    2.計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺未能連接;


    3.控制電路板損壞;


    4.光譜儀輸出電壓不正常;


    5.操作軟件有問題;


    6.光譜儀室溫度過高或過低;


    7.檢測器已完全損壞;


    8.He-Ne激光器不工作或能量已較大衰減。


    排除方法:


    1.重新固定分束器,如分束器已損壞,請維修工程師檢查,必要時(shí)更換分束


    器(分束器損壞很有可能是由于受潮引起或更換時(shí)碰撞產(chǎn)生裂痕引起,


    應(yīng)注意保持儀器室的干燥,從儀器上取出或裝入時(shí)一定要非常小心);


    2.檢查計(jì)算機(jī)與光學(xué)臺連接口,鎖緊接口,重新啟動(dòng)光學(xué)臺和計(jì)算;


    3.與維修工程師,或請維修工程師檢査,必要時(shí)更換控制電路板(更換后,要再次檢査穩(wěn)壓電源工作效率和儀器室電源有無問題);


    4.檢査光譜儀面板上指示燈,有自診斷程序可啟動(dòng)診斷,檢查輸出電源是否正常,排查故障原因,并與維修工程師處理方法;


    5重新安裝操作軟件;


    6.過空調(diào)調(diào)控室溫;7.更換檢測器;


    8.檢查He-Ne激光器工作是否正常,及時(shí)請維修工程師維修。


    (3)干涉圖能量過高,導(dǎo)致溢出


    可能原因:


    1.光闌孔徑太大或信號増益倍數(shù)太高;


    2.動(dòng)鏡移動(dòng)速度太慢。


    排除方法:


    1.重新設(shè)置光闌孔徑或信號增益倍數(shù),使之處于適當(dāng)值;


    2.重新設(shè)置動(dòng)鏡移動(dòng)速度。





所謂拉曼光譜,是通過光照射到物質(zhì)使光子與分子內(nèi)的電子碰撞,發(fā)生非彈性碰撞,光子就有一部分能量傳遞給電子,此時(shí)散射光的頻率就不等于入射光的頻率,從而以其散射得到拉曼光譜。目前,拉曼光譜儀憑借其結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便、測量快速準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn),于科研院所、高等院校物理和化學(xué)實(shí)驗(yàn)室、生物及醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。
 

  作為一款精密的檢測分析儀器,拉曼光譜的日常保養(yǎng)維護(hù)十分重要,根據(jù)網(wǎng)上資料對其維護(hù)保養(yǎng)注意事項(xiàng)進(jìn)行如下歸納:
 

  1.拉曼光譜儀的存放環(huán)境注意。由于拉曼光譜儀在使用過程中對環(huán)境具有一些要求,因而在拉曼光譜儀放置使,除了注意保證設(shè)備放置位置安全,還需要對環(huán)境溫度和濕度有所要求,保證設(shè)備干燥。此外,盡量避免將本設(shè)備及其電池暴露在高溫區(qū)域,或發(fā)熱設(shè)備附近,避免溫度過高導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)損壞。
 

  2.拉曼光譜儀使用過程需要充電時(shí),請將電源插頭插入設(shè)備附近易于觸及的插座中。便攜式拉曼光譜儀設(shè)備、電池及配件不可作為生活垃圾處理。此外,也需要避免使用非認(rèn)可的充電器、移動(dòng)電源或電池,以免引起火災(zāi)、爆炸等危險(xiǎn)。
 

  3.對設(shè)備進(jìn)行定期清潔,在請勿在多灰塵的場所。長時(shí)間使用拉曼光譜,需要注意避免細(xì)小沙塵進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部,導(dǎo)致性能下降或其它故障。請勿使液體、粉末等物質(zhì)粘連在設(shè)備及配件表面,以避免對激光器鏡片產(chǎn)生腐蝕或刮蹭。定期對設(shè)備進(jìn)行清潔,但需要注意清潔方式和溶劑符合設(shè)備要求。



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