涂層測(cè)厚儀開機(jī)時(shí)的校準(zhǔn)方法，常規(guī)的客戶需要用到的三個(gè)步驟：
1、校準(zhǔn)-基底校準(zhǔn)
把儀器穩(wěn)當(dāng)?shù)模N合的放在兩個(gè)(鐵基只有一個(gè)、基底上測(cè)試如果測(cè)試結(jié)果都是0，那么可直接拿校準(zhǔn)片進(jìn)行測(cè)試，或者直接測(cè)試客戶產(chǎn)品;如果測(cè)試基底結(jié)果是有數(shù)值的，按“ZERO(開關(guān)機(jī)鍵左邊、”鍵歸零后再測(cè)試基底(不能放在校準(zhǔn)片上校準(zhǔn)，否則出現(xiàn)負(fù)數(shù)、，測(cè)試基底顯示為0說明校準(zhǔn)成功。如果仍然有數(shù)值，可重復(fù)以上歸零步驟，直到校準(zhǔn)值為0.
例子：在鐵或者鋁基底上測(cè)試3.0(或其他任何數(shù)值、，然后按“ZERO”歸零后再放在對(duì)應(yīng)的鐵或者鋁的基底上測(cè)試，如果是0，說明校準(zhǔn)成功，有數(shù)值請(qǐng)重復(fù)以上步驟，直到測(cè)試基底為0
(一般情況下完成基底校準(zhǔn)就可以正常測(cè)試產(chǎn)品了，有些客戶需要進(jìn)一步驗(yàn)證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，可完成接下來“校準(zhǔn)片校準(zhǔn)/修正”步驟、
2、校準(zhǔn)片-校準(zhǔn)/修正
測(cè)試校準(zhǔn)片，數(shù)值在偏差范圍內(nèi)，可直接測(cè)試客戶的產(chǎn)品
測(cè)試校準(zhǔn)片，數(shù)值偏差較大，按“上鍵”“下鍵”(開關(guān)機(jī)鍵上下兩個(gè)鍵、修正數(shù)值為校準(zhǔn)片的數(shù)值(或接近校準(zhǔn)片數(shù)值、，然后再放在對(duì)應(yīng)數(shù)值的校準(zhǔn)片測(cè)試(不能直接測(cè)基底，否則會(huì)出現(xiàn)負(fù)數(shù)、。以上步驟可重復(fù)多次修正，直到數(shù)值為正常誤差內(nèi)即可。
例子：校準(zhǔn)片數(shù)值是50，儀器測(cè)出來是40，按上鍵修正數(shù)值為“50”，然后再放在50校準(zhǔn)片上測(cè)試(不能放在基底上、，如果數(shù)值在偏差范圍內(nèi)，說明數(shù)值校準(zhǔn)成功，可直接測(cè)試客戶產(chǎn)品;
如果校準(zhǔn)片數(shù)值是50，儀器測(cè)出來是60，按下鍵修正數(shù)值為“50”，再測(cè)試校準(zhǔn)片。
3、恢復(fù)出廠設(shè)置
膜厚儀
當(dāng)操作有誤不知如果修正時(shí)，可同時(shí)按住“左上鍵”“右上鍵”(熊貓的兩個(gè)突出的半圓、會(huì)出現(xiàn)英文提示是否校準(zhǔn)，通過上下鍵選擇“YES”，然后按“單位切換鍵”(開關(guān)機(jī)鍵右邊、，確認(rèn)恢復(fù)出廠設(shè)置，之后按校準(zhǔn)步驟校準(zhǔn)即可正常使用。
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測(cè)厚儀其實(shí)是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類涂層測(cè)厚儀，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類：運(yùn)用α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計(jì);選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有電容式厚度計(jì)等。
此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研發(fā)、試驗(yàn)期間。涂層測(cè)厚儀可測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精細(xì)測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地運(yùn)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等范疇，是企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量、商查看控、必不可少的查看儀器。
一、作業(yè)原理
膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)
當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
二、常見毛病及掃除辦法
涂層測(cè)厚儀的毛病主要有示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定、測(cè)量差錯(cuò)較大、屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)。致使這些毛病的要素既有來自儀器本身，也有被測(cè)工件的要素，還有即是來自人為的影響，下面咱們介紹一下掃除這些毛病的辦法。
1.示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定
致使涂層測(cè)厚儀示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的要素主要是來自工件本身的資料和構(gòu)造的特別性，比方工件本身是不是為導(dǎo)磁性資料，假如是導(dǎo)磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測(cè)厚儀，假如工件為導(dǎo)電體，咱們就得挑選渦流涂層測(cè)厚儀。再者，被測(cè)件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現(xiàn)不穩(wěn)定的重要要素，測(cè)厚儀的探頭對(duì)那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關(guān)鍵即是：測(cè)量前鏟除被測(cè)件觸摸面的塵埃、細(xì)屑、油脂及腐蝕產(chǎn)物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。再有即是在進(jìn)行體系調(diào)零時(shí)，所運(yùn)用的基體外表也有必要是清洗、潤(rùn)滑的。如感受測(cè)量成果差錯(cuò)比較大時(shí)，請(qǐng)先用儀器裝備的塑料校準(zhǔn)片做一輪測(cè)驗(yàn)，如違背答應(yīng)差錯(cuò)較遠(yuǎn)則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時(shí)沒有挑選適宜的基體?；w最小平面為7mm，最小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
2.測(cè)量成果差錯(cuò)大
探頭的放置方法對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與被測(cè)件外表堅(jiān)持筆直。而且探頭的放置時(shí)刻不宜過長(zhǎng)，避免形成基體本身磁場(chǎng)的攪擾。測(cè)量時(shí)不要拖動(dòng)探頭，由于這么不僅對(duì)探頭會(huì)形成磨損，也不會(huì)得到精確的測(cè)量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測(cè)量基座外表有銹蝕、測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)周圍有電磁場(chǎng)攪擾等要素都有也許致使測(cè)量成果的反常，假如離電磁場(chǎng)十分近時(shí)還有也許會(huì)發(fā)作死機(jī)景象。
3.屏幕不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)
最簡(jiǎn)略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量仍是不顯現(xiàn)數(shù)值，可以思考是不是有測(cè)頭及連線有松動(dòng)、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內(nèi)電子零部件等要素影響。小編在實(shí)際作業(yè)中就碰到過因測(cè)頭運(yùn)用不當(dāng)被化學(xué)物品腐蝕，致使儀器不顯現(xiàn)數(shù)據(jù)的景象。
4.人為要素
涂層測(cè)厚儀之所以可以測(cè)量到微米級(jí)就由于它可以采納磁通量的細(xì)小改動(dòng)，并把它轉(zhuǎn)化變成數(shù)字信號(hào)。運(yùn)用者在測(cè)量過程中假如對(duì)儀器不熟悉就也許使探頭違背被測(cè)體，使磁通量發(fā)作改動(dòng)形成錯(cuò)誤測(cè)量。運(yùn)用者初度運(yùn)用儀器時(shí)，要先認(rèn)真研讀說明書，把握好測(cè)量辦法。
5.儀器本身發(fā)作毛病
長(zhǎng)時(shí)間處于作業(yè)狀況的測(cè)厚儀，極有也許發(fā)作轟動(dòng)、下跌、等意外，或所在的作業(yè)環(huán)境有磁場(chǎng)攪擾，致使儀器內(nèi)部電子零件受攪擾至損，又是由于經(jīng)多人次、多地址運(yùn)用，致使儀器測(cè)量數(shù)據(jù)不可靠、屏幕數(shù)據(jù)顯現(xiàn)呈亂碼、乃至無法開機(jī)等，所以主張盡量確保專人運(yùn)用和保管儀器，發(fā)作毛病及時(shí)返廠修理，不得私行拆機(jī)查看。
因而，在運(yùn)用測(cè)厚儀測(cè)量的時(shí)分要注意以下幾點(diǎn)：
(1)在測(cè)量的時(shí)分要注意側(cè)頭與測(cè)試外表堅(jiān)持筆直。
(2)在測(cè)量時(shí)要保持壓力的穩(wěn)定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
(3)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和外表粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件類似。
(4)在測(cè)量的時(shí)分要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因而在彎曲的試件外表上測(cè)量時(shí)不可靠的。
(5)測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)發(fā)作磁場(chǎng)，假如會(huì)，將會(huì)攪擾磁性測(cè)厚法的測(cè)厚儀。
(6) 在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
(7)在進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的時(shí)分要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)驗(yàn)件的要直接接觸，因而超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭鏟除附著物質(zhì)。
(8)測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和接近試件邊際處測(cè)量，由于通常的測(cè)厚儀對(duì)試件外表形狀的遽然改動(dòng)很靈敏。
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