超聲波測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過(guò)試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度。
超聲波測(cè)厚儀的使用注意事項(xiàng)：
a、電源電壓低時(shí)，在液晶屏幕左側(cè)顯示低電壓符號(hào)，此時(shí)為了保證儀器的正常測(cè)量使用，請(qǐng)您及時(shí)更換電池。
b、在不需要背光的時(shí)候，盡量不要長(zhǎng)時(shí)間開(kāi)啟背光，以免過(guò)快消耗電池的電量。
c、傳感器表面為丙烯樹(shù)脂，對(duì)粗糙表面的重劃很敏感，因此在使用中盡量輕按。
d、在測(cè)量以后盡量及時(shí)將傳感器表面的耦合劑和標(biāo)準(zhǔn)試塊，被測(cè)物體表面的耦合劑清理干凈。
e、被測(cè)物體表面溫度不超過(guò)60度，以免導(dǎo)致傳感器不能正常測(cè)量。
f、儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)將電池取出，以免電池漏液導(dǎo)致儀器損壞。
g、盡量避免油污，潮濕，碰撞。
h、插拔傳感器時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)傳感器頭部，以免損壞傳感器電纜線芯。
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相關(guān)熱詞：
等離子清洗機(jī),反應(yīng)釜,旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)儀,高精度溫濕度計(jì),露點(diǎn)儀,高效液相色譜儀價(jià)格,霉菌試驗(yàn)箱,跌落試驗(yàn)臺(tái),離子色譜儀價(jià)格,噪聲計(jì),高壓滅菌器,集菌儀,接地電阻測(cè)試儀型號(hào),柱溫箱,旋渦混合儀,電熱套,場(chǎng)強(qiáng)儀萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)價(jià)格,洗瓶機(jī),勻漿機(jī),耐候試驗(yàn)箱,熔融指數(shù)儀,透射電子顯微鏡。
覆層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量?？蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》。
覆層測(cè)厚儀參數(shù)
測(cè)頭類(lèi)型：F。
測(cè)量原理：磁感應(yīng)。
測(cè)量范圍：0-1250um。
低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
探頭連接方式：一體化。
示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。
兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。
測(cè)量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
zui小臨界厚度（mm）：0.5。
溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。
存儲(chǔ)能力：15 個(gè)測(cè)量值。
打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。
關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)。
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
外形尺寸：150×55.5×23mm。
重量：150g。
基本配置：主機(jī)。
標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
鐵基體。
充電器。
可選附件。
TA230打印機(jī)。
覆層測(cè)厚儀基本原理
本儀器采用了磁性測(cè)厚法，可無(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。 基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)。測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆層的厚度。
覆層測(cè)厚儀基本配置
TT220主機(jī) 一臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒
標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊
充電器 1個(gè)
覆層測(cè)厚儀主要功能
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：
具有兩種測(cè)量方式地：連續(xù)測(cè)量方式（continue）和單次測(cè)量方式（single）;
具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值地（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；
具有打印功能，或打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；
具有欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)
測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；
精度高 ：簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上為數(shù)不多能達(dá)到A級(jí)的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類(lèi).比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；
穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性?xún)?yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；
功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。
涂層測(cè)厚儀的使用步驟
正確裝上電池，注意電池極性。
市場(chǎng)上流通的涂層測(cè)厚儀功能都簡(jiǎn)單，就是只能測(cè)厚度值，所以開(kāi)機(jī)基本上都可以直接使用，不需要設(shè)置。
測(cè)厚儀出廠的時(shí)候都附帶基準(zhǔn)片，基準(zhǔn)片是用來(lái)標(biāo)定的。當(dāng)數(shù)值不準(zhǔn)的時(shí)候要進(jìn)行數(shù)據(jù)校準(zhǔn)。
在測(cè)量之前先測(cè)附帶的基準(zhǔn)片，如果數(shù)值都準(zhǔn)那就不需要再校準(zhǔn)。不準(zhǔn)的話就要進(jìn)行校準(zhǔn)，各個(gè)廠家測(cè)厚儀的校準(zhǔn)步驟不一樣，按其說(shuō)明書(shū)步驟進(jìn)行校準(zhǔn)即可。
測(cè)量的時(shí)候，測(cè)厚儀的探頭要放平，放平測(cè)量才能得到精確的數(shù)值。
鐵門(mén)的涂層厚度值。
覆層測(cè)厚儀功能上采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。
測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類(lèi)儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法?！ y(cè)量注意事項(xiàng)： 1、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。 2、測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直?！ ?、測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響?！ ?、測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的?！ ?、測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。 6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感?！ ?、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)?！ ?、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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