頻譜分析儀是一種比較貴重的綜合性儀器，一旦損壞，相應(yīng)的維修費(fèi)用比較高，且維修周期比較長(zhǎng)，因此正確使用非常重要。
1、對(duì)于頻譜分析儀來(lái)說(shuō)電源是非常重要的，在給頻譜分析儀加電之前，一定要確保電源接法正確，保證地線可靠接地。
頻譜分析儀配置的是三芯電源線，開(kāi)機(jī)之前，必須將電源線插頭插入標(biāo)準(zhǔn)的三相插座中，千萬(wàn)不要使用沒(méi)有保護(hù)地的電源線，以防止可能造成的人身傷害。
2、在對(duì)信號(hào)進(jìn)行精確測(cè)量前，頻譜分析儀開(kāi)機(jī)后應(yīng)預(yù)熱三十分鐘，當(dāng)測(cè)試環(huán)境溫度改變3—5度時(shí)，頻譜分析儀應(yīng)重新進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、任何頻譜分析儀在輸入端口都有一個(gè)允許輸入的最大安全功率，稱(chēng)為最大輸入電平。
如國(guó)產(chǎn)多功能頻譜分析儀AV4032要求連續(xù)波輸入信號(hào)的最大功率不能超過(guò)＋30dBmW(1W)，且不允許直流輸入。
若輸入信號(hào)值超出了頻譜分析儀所允許的最大輸入電平值，則會(huì)造成儀器損壞；
對(duì)于不允許直流輸入的頻譜分析儀，若輸入信號(hào)中含有直流成份，則也會(huì)對(duì)頻譜分析儀造成損傷。
一般頻譜分析儀的最大輸入電平值通常在前面板靠近輸入連接口的地方標(biāo)出。
如果頻譜分析儀不允許信號(hào)中含有直流電壓，當(dāng)測(cè)量帶有直流分量的信號(hào)時(shí)，應(yīng)外接一個(gè)恰當(dāng)數(shù)值的電容器用于隔直流。
當(dāng)對(duì)所測(cè)信號(hào)的性質(zhì)不太了解時(shí)，我們可采用以下的辦法來(lái)保證頻譜分析儀的安全使用：
如果有RF功率計(jì)，可以用它來(lái)先測(cè)一下信號(hào)電平；
如果沒(méi)有功率計(jì)，則在信號(hào)電纜與頻譜儀的輸入端之間應(yīng)接上一個(gè)一定量值的外部衰減器，頻譜分析儀應(yīng)選擇最大的射頻衰減和可能的最大基準(zhǔn)電平，并且使用最寬的頻率掃寬(SPAN)，保證可能偏出屏幕的信號(hào)可以清晰看見(jiàn)。
我們也可以使用示波器、電壓表等儀器來(lái)檢查DC及AC信號(hào)電平。
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光在傳播中，波前受到與波長(zhǎng)尺度相當(dāng)?shù)南犊谆蝾w粒的限制，以受限波前處各元波為源的發(fā)射在空間干涉而產(chǎn)生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間（角度）分布與光波波長(zhǎng)和隙孔或顆粒的尺度有關(guān)。
用激光做光源，光為波長(zhǎng)一定的單色光后，衍射和散射的光能的空間（角度）分布就只與粒徑有關(guān)。
對(duì)顆粒群的衍射，各顆粒級(jí)的多少?zèng)Q定著對(duì)應(yīng)各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應(yīng)反映著各顆粒級(jí)的分布豐度。
按照這一思路可建立表征粒度級(jí)豐度與各特定角處獲取的光能量的數(shù)學(xué)物理模型，進(jìn)而研制儀器，測(cè)量光能，由特定角度測(cè)得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應(yīng)粒徑級(jí)的豐度比例量。
根據(jù)光學(xué)衍射和散射的原理，從激光器發(fā)出的激光束經(jīng)顯微物鏡聚集，針孔濾波和準(zhǔn)直后，變成直徑約10mm的平行光束，該光束照射到待測(cè)的顆粒上；
就發(fā)生了散射，散射光經(jīng)傅立葉透鏡后，照射到光電探測(cè)器上的任一點(diǎn)都對(duì)應(yīng)于某一確定的散射角；
光電探測(cè)器陣列由一系列同心環(huán)帶組成，每個(gè)環(huán)帶是一個(gè)獨(dú)立的探測(cè)器，能將投射到上面的散射光線形地轉(zhuǎn)換成電壓；
然后送給數(shù)據(jù)采集卡，該卡將電信號(hào)放大，再進(jìn)行AID轉(zhuǎn)化后送入計(jì)算機(jī)。
噴霧激光粒度分析儀依據(jù)全量程米氏散射理論，噴霧激光粒度分析儀充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)；
根據(jù)激光照射在顆粒上產(chǎn)生的散射光能量反演出顆粒群的粒度大小和粒度分布規(guī)律。
噴霧激光粒度分析儀對(duì)顆粒群的衍射，各顆粒級(jí)的多少?zèng)Q定著對(duì)應(yīng)各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應(yīng)反映著各顆粒級(jí)的分布豐度。
按照這一思路可建立表征粒度級(jí)豐度與各特定角處獲取的光能量的數(shù)學(xué)物理模型，進(jìn)而研制儀器；
測(cè)量光能，由特定角度測(cè)得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應(yīng)粒徑級(jí)的豐度比例量。
噴霧激光粒度分析儀采用濕法分散技術(shù)，機(jī)械攪拌使樣品均勻散開(kāi)，超聲高頻震蕩使團(tuán)聚的顆粒充分分散；
電磁循環(huán)泵使大小顆粒在整個(gè)循環(huán)系統(tǒng)中均勻分布，從而在根本上保證了寬分布樣品測(cè)試的準(zhǔn)確重復(fù)。
硅在線質(zhì)分析儀的維護(hù)工作不可忽視！
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