膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。
手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。
也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
測定準(zhǔn)備
（1）確保電池正負(fù)極方向正確無誤后設(shè)定。
（2）探頭的選擇和設(shè)定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準(zhǔn)測定對象，在本體上進行設(shè)定。
測定方法
（1）探頭的選擇和安裝方法：確認(rèn)電源處于OFF狀態(tài)，與測定對象的質(zhì)地材質(zhì)接觸，安裝LEP-J或LHP-J。
（2）調(diào)整：確認(rèn)測定對象已經(jīng)被調(diào)整。未調(diào)整時要進行調(diào)整。
（3）測定：在探頭的末端加一定的負(fù)荷，即使用[一點接觸定壓式]。抓住與測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。
下述的測定，每次都要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續(xù)測定平面時，如果采用探頭適配器，可以更加穩(wěn)定地進行測定。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。
10、測量頭壓力
測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測量頭的取向
測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直。
其實任何一種設(shè)備儀器都會有影響誤差，尤其對于比較精密的儀器，所有不當(dāng)?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響，提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當(dāng)操作的關(guān)鍵。
便攜式膜厚儀的測量原理 便攜式膜厚儀根據(jù)探頭類型的不同，采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型探頭采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。N型探頭采用渦流法，可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。 珠海天創(chuàng)儀器專業(yè)代理銷售國內(nèi)外超聲探傷產(chǎn)品：超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、各種配件、超聲波探頭、耦合劑等
3.便攜式膜厚儀的測量原理
便攜式膜厚儀是便攜式、快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。配置不同的探頭，適用于不同場合。
涂裝系列產(chǎn)品：涂層測厚儀、噴涂表面檢測、片材測試、物料測試、耐腐蝕測試等
磁粉探傷產(chǎn)品：便攜式交直流磁軛、熒光磁粉、普通磁粉，各種紫外線燈、紫外線照度計等
環(huán)保系列產(chǎn)品：溫濕度計、風(fēng)速計、噪音計、環(huán)境檢測儀器、各種氣體檢測儀、氣體分析儀等
建筑檢測產(chǎn)品：鋼筋探測儀、混凝土保護層測厚儀、激光測距儀、水準(zhǔn)儀、經(jīng)緯儀、全站儀等
光測量計系列：分光輻射亮度計、色彩亮度計、色彩分析計、光譜儀等
測色儀器系列：分光測色計、色差計、色彩管理軟件、光澤度計等
電子電工產(chǎn)品：示波器、萬用表、鉗形表、相序表、電力檢測儀器等
如何正確選購膜厚儀，下面小編為大家簡單介紹：
首先取決于你所測產(chǎn)品的結(jié)構(gòu).如果只是簡單的涂層,銅箔使用普通的膜厚儀就可以解決了.如：銅箔測厚儀,涂層測厚儀.
如果測電鍍層的厚度,而且具有幾層鍍層,那么就要使用x-射線膜厚儀.單鍍層厚度大于0.5um的還可以采用金相法觀察.
膜厚儀采用了磁性測厚法：是一種超小型測量儀,它能快速,無損傷,精確地進行鐵磁性金屬基體上的噴涂.電鍍層厚度的測量.可廣泛用于制造業(yè),金屬加工業(yè),化工業(yè),商檢等檢測領(lǐng)域.特別適用于工程現(xiàn)場測量.
膜厚儀采用二次熒光法：它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
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