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【掃描電子顯微鏡】掃描電子顯微鏡四個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題

時(shí)間:2020-06-12    來(lái)源:儀多多儀器網(wǎng)    作者:儀多多商城     
1.掃描電子顯微鏡的操作是怎樣的呢?

掃描電子顯微鏡的操作是怎樣的呢?

    掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器;

    它廣泛應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對(duì)圖象象元掃掠的工作過(guò)程。

    它與電視一樣是由控制電子束偏轉(zhuǎn)的電子系統(tǒng)來(lái)完成的;

    只是在結(jié)構(gòu)和部件上稍有差異而已。

    在電子掃描中,把電子束從左到右方向的掃描運(yùn)動(dòng)叫做行掃描或稱作水平掃描;

    把電子束從上到下方向的掃描運(yùn)動(dòng)叫做幀掃描或稱作垂直掃描。

    兩者的掃描速度完全不同,行掃描的速度比幀掃描的速度快,對(duì)于1000條線的掃描圖象來(lái)說(shuō),速度比為1000。

    掃描電子顯微鏡利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài);

    即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

    掃描電子顯微鏡掃描系統(tǒng)由掃描發(fā)生器和掃描線圈組成。

    它的作用是:

    使入射電子束在樣品表面掃描,并使陰極射線顯像管電子束在熒光屏上作同步掃描;

    改變?nèi)肷涫跇悠繁砻娴膾呙璺?,從而改變掃描像的放大倍?shù)。

    掃描電子顯微鏡應(yīng)用的物理信號(hào)可分為:

    1)電子信號(hào),包括二次電子、背散射電子、透射電子和吸收電子。

    吸收電子可直接用電流表測(cè),其他電子信號(hào)用電子收集器

    2)特征X射線信號(hào),用X射線譜儀檢測(cè)(EDS)。

    圖像顯示系統(tǒng)是將電信號(hào)轉(zhuǎn)換為陰極射線顯像管電子束強(qiáng)度的變化;

    得到一幅亮度變化的掃描像,同時(shí)用照相方式記錄下來(lái),或用數(shù)字化形式存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)中。

    掃描電子顯微鏡提供必需的高真空,保證了電子束的正常掃描,還可以防止樣品受到污染;

    電源系統(tǒng)主要是指各種部件的電源,如加速電壓電源、透鏡電源和光電倍增管電源等;

    雖然是顯微鏡家族中的后起之秀,但由于其本身具有許多獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn),發(fā)展速度是很快的。

    掃描電子顯微鏡可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場(chǎng)進(jìn)行觀察;

    同時(shí)在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達(dá)到的高亮度的清晰圖像,觀察樣品的景深大,視場(chǎng)大,圖像富有立體感;

    可直接觀察起伏較大的粗糙表面和試樣凹凸不平的金屬斷口象等;

    使人具有親臨微觀世界現(xiàn)場(chǎng)之感。

    掃描電子顯微鏡可以通過(guò)電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量;

    如亮度及反差自動(dòng)保持,試樣傾斜角度校正,圖象旋轉(zhuǎn);

    或通過(guò)Y調(diào)制改善圖象反差的寬容度,以及圖象各部分亮暗適中。

    采用雙放大倍數(shù)裝置或圖象選擇器,可在熒光屏上同時(shí)觀察放大倍數(shù)不同的圖象。

掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡的操作是怎樣的呢?_掃描電子顯微鏡
2.掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計(jì)    掃描電子顯微鏡精心合理的設(shè)計(jì)    
   掃描電子顯微鏡是用極細(xì)的電子束在樣品表面掃描,將產(chǎn)生的二次電子用特制的探測(cè)器收集,形成電信號(hào)運(yùn)送到顯像管,在熒光屏上顯示物體。(細(xì)胞、組織)表面的立體構(gòu)像,可攝制成照片。
   掃描電子顯微鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再於樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù),掃描電鏡樣品用戊二醛和餓酸等固定,經(jīng)脫水和臨界點(diǎn)干燥后,再于樣品表面噴鍍薄層金膜,以增加二波電子數(shù)。掃描電子顯微鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由於它的景深長(zhǎng),1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。掃描電鏡能觀察較大的組織表面結(jié)構(gòu),由于它的景深長(zhǎng),1mm左右的凹凸不平面能清所成像,故放樣品圖像富有立體感。
   掃描電子顯微鏡自動(dòng)定性分析是根據(jù)能量位置來(lái)確定峰位,直接單擊"操作/定性分析"按鈕,即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)定性分析,在譜的每個(gè)峰的位置顯示出相應(yīng)的元素符號(hào)。
   掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)是識(shí)別速度快,但由于能譜譜峰重疊干擾嚴(yán)重,自動(dòng)識(shí)別極易出錯(cuò),比如把某元素的L系誤識(shí)別為另一元素的K系,這是它的缺點(diǎn)。為此分析者在儀器自動(dòng)定性分析過(guò)程結(jié)束后,還必須對(duì)識(shí)別錯(cuò)了的元素用手動(dòng)定性分析進(jìn)行修正。所以雖然有自動(dòng)定性分析程序,但對(duì)分析者來(lái)說(shuō),具有一定的定性分析技術(shù)實(shí)在是必不可少的。
   掃描電子顯微鏡是通過(guò)X射線強(qiáng)度來(lái)獲取組成樣品材料的各種元素的濃度,根據(jù)實(shí)際情況,人們尋求并提出了測(cè)量未知樣品和標(biāo)樣的強(qiáng)度比方法,再把強(qiáng)度比經(jīng)過(guò)定量修正換算呈濃度比。掃描電子顯微鏡兩種定量分析方法:無(wú)標(biāo)樣定量分析法和有標(biāo)樣定量分析析法。
   電子束只打到試樣上一點(diǎn),得到這一點(diǎn)的X射線譜的分析方法是點(diǎn)分析方法。與此不同的是,用掃描像觀察裝置,使電子束在試樣上做二維掃描,測(cè)量特征X射線的強(qiáng)度,使與這個(gè)強(qiáng)度對(duì)應(yīng)的亮度變化與掃描信號(hào)同步在陰極射線管上顯示出來(lái),就得到特征X射線強(qiáng)度的二維分布的像。這種觀察方法稱為元素的面分布分析方法,它是一種測(cè)量元素二維分布的非常方便的方法。
 

3.掃描電子顯微鏡的儀器特點(diǎn)
在掃描電鏡中, 入射電子束在樣品上的掃描和顯像管中電子束在熒光屏上的掃描是用一個(gè)共同的掃描發(fā)生器控制的。這樣就保證了入射電子束的掃描和顯像管中電子束的掃描完全同步, 保證了樣品上的“物點(diǎn)”與熒光屏上的“象點(diǎn)”在時(shí)間和空間上一一對(duì)應(yīng), 稱其為“同步掃描”。一般掃描圖象是由近100萬(wàn)個(gè)與物點(diǎn)一一對(duì)應(yīng)的圖象單元構(gòu)成的, 正因?yàn)槿绱? 才使得掃描電鏡除能顯示一般的形貌外, 還能將樣品局部范圍內(nèi)的化學(xué)元素、光、電、磁等性質(zhì)的差異以二維圖象形式顯示。
掃描電子顯微鏡的儀器特點(diǎn)
1 儀器分辨率較高, 通過(guò)二次電子象能夠觀察試樣表面6nm左右的細(xì)節(jié), 采用LaB6電子槍, 可以進(jìn)一步提高到3nm。 
2 儀器放大倍數(shù)變化范圍大, 且能連續(xù)可調(diào)。因此可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場(chǎng)進(jìn)行觀察, 同時(shí)在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達(dá)到的高亮度的清晰圖像。 
3 觀察樣品的景深大, 視場(chǎng)大, 圖像富有立體感, 可直接觀察起伏較大的粗糙表面和試樣凹凸不平的金屬斷口象等, 使人具有親臨微觀世界現(xiàn)場(chǎng)之感。 
4 可以通過(guò)電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量, 如亮度及反差自動(dòng)保持, 試樣傾斜角度校正, 圖象旋轉(zhuǎn), 或通過(guò)Y調(diào)制改善圖象反差的寬容度, 以及圖象各部分亮暗適中。采用雙放大倍數(shù)裝置或圖象選擇器, 可在熒光屏上同時(shí)觀察放大倍數(shù)不同的圖象。
5 樣品制備簡(jiǎn)單, 只要將塊狀或粉末狀的樣品稍加處理或不處理, 就可直接放到掃描電鏡中進(jìn)行觀察, 因而更接近于物質(zhì)的自然狀態(tài)。 
6 可進(jìn)行綜合分析。裝上波長(zhǎng)色散X射線譜儀(WDX) 或能量色散X射線譜儀 (EDX) , 使具有電子探針的功能, 也能檢測(cè)樣品發(fā)出的反射電子、X射線、陰極熒光、透射電子、俄歇電子等。把掃描電鏡擴(kuò)大應(yīng)用到各種顯微的和微區(qū)的分析方式, 顯示出了掃描電鏡的多功能。另外, 還可以在觀察形貌圖象的同時(shí), 對(duì)樣品任選微區(qū)進(jìn)行分析;裝上半導(dǎo)體試樣座附件, 通過(guò)電動(dòng)勢(shì)象放大器可以直接觀察晶體管或集成電路中的PN結(jié)和微觀缺陷。由于不少掃描電鏡電子探針實(shí)現(xiàn)了電子計(jì)算機(jī)自動(dòng)和半自動(dòng)控制, 因而大大提高了定量分析的速度。


4.掃描電子顯微鏡的功能及用途說(shuō)明    掃描電子顯微鏡的功能及用途說(shuō)明
  掃描電子顯微鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實(shí)的三維效應(yīng)等,對(duì)于導(dǎo)電材料,可直接放入樣品室進(jìn)行分析,對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。
  具體功能用途歸納如下:
  1、掃描電鏡追求固體物質(zhì)高分辨的形貌,形態(tài)圖像-形貌分析(表面幾何形態(tài),形狀,尺寸);
  2、顯示化學(xué)成分的空間變化,基于化學(xué)成分的相鑒定-化學(xué)成分像分布,微區(qū)化學(xué)成分分析;
  3、利用背散射電子衍射信號(hào)對(duì)樣品物質(zhì)進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)(原子在晶體中的排列方式),晶體取向分布分析,基于晶體結(jié)構(gòu)的相鑒定。
  4、掃描電子顯微鏡在半導(dǎo)體器件研究中的特殊應(yīng)用:
  1)利用電子束感生電流進(jìn)行成像,可以用來(lái)進(jìn)行集成電路中的定位和損傷研究。
  2)利用樣品電流成像,結(jié)果可顯示電路中金屬層的開(kāi)、短路,因此電阻襯度像經(jīng)常用來(lái)檢查金屬布線層、多晶連線層、金屬到硅的測(cè)試圖形和薄膜電阻的導(dǎo)電形式。
  3)利用二次電子電位反差像,反映了樣品表面的電位,從它上面可以看出樣品表面各處電位的高低及分布情況,特別是對(duì)于器件的隱開(kāi)路或隱短路部位的確定尤為方便。
  如今,掃描電子顯微鏡已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具、加速電子的電壓和所希望獲得的分辨率決定樣本的厚度。樣本的厚度可以從數(shù)納米到數(shù)微米不等。原子量越高、電壓越低、電子透鏡、樣品架、熒光屏和探測(cè)器等部件,一般在數(shù)千伏到3百萬(wàn)伏特之間。它能發(fā)射并形成速度均勻的電子束,所以加速電壓的穩(wěn)定度要求不低于萬(wàn)分之一。




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