拍擊式均質(zhì)器又名為無菌均質(zhì)器、拍打式均質(zhì)器，使從固體樣品中提取細菌的過程變得非常簡單，只需將樣品和稀釋液加入到無菌的過濾器樣品袋中 ，然后將樣品袋放入均質(zhì)儀中，關(guān)上門即開始和完成樣品的處理。
減少了樣品的處理和準備時間，通常30-60秒的處理時間是充分的。處理后的樣品溶液可以直接進行取樣和分析，沒有樣品的變化和交叉污染的危險。
拍擊式均質(zhì)器是在國外系列產(chǎn)品技術(shù)基礎(chǔ)上改進并放大的先進產(chǎn)品，具有均質(zhì)柔和、樣品無污染、無損傷、不升溫、不需滅菌處理，不需洗刷器皿的特點。
此產(chǎn)品廣泛用于動物組織、生物樣品、食品、藥品、化妝品，如：肉、魚、蔬菜、水果、餅干、煙草……稀釋和混合等等的均質(zhì)處理，特別適用于微生物檢測樣本的制備，樣品無污染、無損傷、不升溫、不需滅菌處理。
拍擊式均質(zhì)器的操作：
1、先將拍擊式均質(zhì)器放置在牢固且水平的平面上，放置滴液盤于透明門的下部，連接好電源線，打開電源開關(guān)。
2、將樣品袋平整地放入混合倉內(nèi)（應(yīng)先檢查樣品袋是否漏液）。
3、扳動鎖緊手柄，將其定位鎖緊。
4、鎖緊門的同時，電機會自動啟動，若發(fā)現(xiàn)異常情況，應(yīng)及時開啟倉門，電機會自動停止。
5、在儀器工作前可旋轉(zhuǎn)均質(zhì)器后面的行程調(diào)節(jié)旋鈕，設(shè)定所需的均質(zhì)行程。
6、工作過程中，可調(diào)節(jié)拍擊速度的快慢和更改設(shè)定的均質(zhì)時間。
7、可從窗口觀察樣品狀態(tài)，待定時時間結(jié)束時取出樣品即可。
8、工作結(jié)束若不打開倉門，拍擊式均質(zhì)器的蜂鳴器會提示報警10秒鐘。
拍擊式均質(zhì)器廣泛用于動物組織、生物樣品等均質(zhì)處理，在食品、藥品、化妝品、臨床、分子學(xué)、毒素及細菌檢測等領(lǐng)域均可應(yīng)用，特別適合于微生物檢測樣本的制備。
也適合腫瘤組織(如肝癌、腸癌、胃癌、乳腺癌)的勻漿，既可得到大量的單細胞，必要時，可通過延長均質(zhì)時間，對組織細胞(如肝臟等)實現(xiàn)柔軟的破碎。
拍擊式均質(zhì)器也可有效地分離固體樣品表面和被包含在內(nèi)的微生物均一樣品，樣品裝在一次性無菌均質(zhì)袋中，不與儀器接觸，運行快速、結(jié)果準確、重復(fù)性好的要求。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于精準度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明： 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準?！ ?、基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準?！ ?、基體金屬厚度 每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。 4、邊緣效應(yīng) 本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。 5、曲率 試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的?！ ?、試件的變形 測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。 7、表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點?！ ?、磁場 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作?！ ?、附著物質(zhì) 本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸?！ ?0、測量頭壓力 測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定?！ ?1、測量頭的取向 測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測量頭與試樣表面保持垂直?！ ∑鋵嵢魏我环N設(shè)備儀器都會有影響誤差，尤其對于比較精密的儀器，所有不當?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響，提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當操作的關(guān)鍵。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于精準度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。
10、測量頭壓力
測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測量頭的取向
測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當使測量頭與試樣表面保持垂直。
其實任何一種設(shè)備儀器都會有影響誤差，尤其對于比較精密的儀器，所有不當?shù)牟僮鞫加锌赡芙o它帶來很大的影響，提高專業(yè)素養(yǎng)是避免不當操作的關(guān)鍵。
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