X射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為一種快速分析手段，為相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對于其他分析方法，XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關部門作為過程控制和檢測使用。
X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)：
1、X射線熒光光譜儀中最昂貴的部分是高壓 X射線光管，它是儀器的核心部件。X射線光管對冷卻水的溫度、壓力、電導率都有嚴格的要求，其較佳冷卻水溫為 22℃～24℃，一般不能超過 30℃，超過 35℃則使用壽命會大大降低。內(nèi)部循環(huán)水用于冷卻陽極靶附近的光管頭部分，因此要求內(nèi)部循環(huán)水為電導率很低的去離子水（必須保證該冷卻水的電導率＜2 μs／cm），以防高壓擊穿導致 x射線光管損壞。
2、分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。影響分光晶體穩(wěn)定性的因素有：溫度、濕度、酸堿度等。
3、探測器性能一般用波高分布曲線的半寬高來衡量，若半寬高增大則說明分辨能力下降，檢測器品質(zhì)變壞。
4、真空系統(tǒng)是X射線熒光光譜儀的重要組成部分。對于真空泵，主要是應該定期檢查真空泵油的油質(zhì)和油量，檢查油質(zhì)時如果有白色或黑色，就說明油質(zhì)不正常，應該立即更換泵油。
射線熒光光譜儀結(jié)構(gòu)復雜，部件眾多，涉及光譜、化學、機械、電控等各個方面，所以，對 X 射線熒光光譜儀的維護和保養(yǎng)需要具備各方面的知識，因此需要我們在工作中不斷學習，充實知識，總結(jié)經(jīng)驗，使X射線熒光光譜儀在使用時能夠發(fā)揮出最大的效能。
X射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為一種快速分析手段，為相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。
相對于其他分析方法，XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關部門作為過程控制和檢測使用。
X射線熒光光譜儀的維護保養(yǎng)：
1、X射線熒光光譜儀中最昂貴的部分是高壓X射線光管，它是儀器的核心部件。X射線光管對冷卻水的溫度、壓力、電導率都有嚴格的要求，其較佳冷卻水溫為22℃～24℃，一般不能超過30℃，超過35℃則使用壽命會大大降低。
內(nèi)部循環(huán)水用于冷卻陽極靶附近的光管頭部分，因此要求內(nèi)部循環(huán)水為電導率很低的去離子水（必須保證該冷卻水的電導率＜2μs／cm），以防高壓擊穿導致x射線光管損壞。
2、分光晶體是具有把X射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。影響分光晶體穩(wěn)定性的因素有：溫度、濕度、酸堿度等。
3、探測器性能一般用波高分布曲線的半寬高來衡量，若半寬高增大則說明分辨能力下降，檢測器品質(zhì)變壞。
4、真空系統(tǒng)是X射線熒光光譜儀的重要組成部分。對于真空泵，主要是應該定期檢查真空泵油的油質(zhì)和油量，檢查油質(zhì)時如果有白色或黑色，就說明油質(zhì)不正常，應該立即更換泵油。
X射線熒光光譜儀屬于大型分析儀器，它主要由以下幾部分組成：
（1）X射線系統(tǒng)（X射線光管、高壓變壓器、管壓管流控制單元）；
（2）水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（內(nèi)外部冷卻水單元、溫度、電導率控制監(jiān)測單元）；
（4）真空系統(tǒng)（真空泵、樣品室）；
（5）檢測系統(tǒng)（光譜室、分光晶體、衰減器、狹縫、測角儀、晶體交換器等）；
（6）檢測記錄系統(tǒng)（流〈充〉氣正比計數(shù)器和閃爍計數(shù)器、脈沖高度分析器等）；
（7）數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。
首先，我們必須注意的是X射線熒光光譜儀對周圍環(huán)境的要求較高，實驗室內(nèi)要保證恒溫、恒濕（22度左右、濕度60%以下），特別是在南方潮濕的天氣環(huán)境下，更要特別注意。
儀器實驗室必須安裝空調(diào)設備，儀器的使用環(huán)境中，不能有酸霧存在，也就是說，XRF儀器不要和化學實驗室在同一個房間內(nèi)。因為X光管和探測器都有用金屬鈹做的窗口，金屬鈹很容易被酸腐蝕。其次是實驗室要環(huán)境清潔，保證電源穩(wěn)定，避免震動。為了儀器正常運轉(zhuǎn)，儀器還必須有獨立地線。
X射線熒光分析技術(shù)作為一種快速分析手段，為我國的相關生產(chǎn)企業(yè)提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發(fā)射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質(zhì)譜等），XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關生產(chǎn)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。
X射線熒光光譜儀的工作原理：
X射線是用高速電子轟擊原子的內(nèi)層電子，使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時外層的電子躍遷到缺少電子的內(nèi)層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長小，肉眼不可見，稱之為X射線。
X射線熒光的波長是以受激物質(zhì)（待測物質(zhì)）的原子序數(shù)為特征的，原子序數(shù)越大的物質(zhì)波長越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長，這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進行定性分析的依據(jù);而元素受激發(fā)射出來的特征X射線熒光的強度則取決于該元素的含量，這是定量分析的依據(jù)。
X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測器和記錄顯示儀器。一次X射線源用X光管，它產(chǎn)生的一次X射線轟擊樣品表面，使樣品激發(fā)出二次X射線。二次X射線經(jīng)平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過程中是回轉(zhuǎn)的，即θ是連續(xù)變化的，θ的變化會使反射光的波長隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據(jù)。這種變化波長的反射線投射到與分光晶體聯(lián)動的檢測器上，檢測器便輸出一個與平面分光晶體反射線強度成比例的信號，它是定量分析的依據(jù)。記錄顯示儀表的記錄紙移動的距離與2θ有關，所以記錄下來的曲線就是熒光光譜圖，其橫坐標是波長，縱坐標是光強。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結(jié)果。
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