金相顯微鏡是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡鏡,它具有穩(wěn)定性好、成像清晰、分辨率高、視場大而平坦的特點。
因其對被測物進行既定性又定量地進行分析,故對金相顯微鏡的校準(zhǔn)工作必不可少。
金相顯微鏡的校準(zhǔn):
為了提高我國的材料研發(fā)制造水平,我們必須對金相顯微鏡進行校準(zhǔn)或檢定。金相顯微鏡主要分為光學(xué)式金相顯微鏡、數(shù)碼金相顯微鏡、便攜式視頻金相顯微鏡、萬能金相顯微鏡、圖像分析儀等。
1、金相顯微鏡的溯源由于各種金相顯微鏡的用途不同,故其類型、結(jié)構(gòu)及精度亦不同,因而溯源關(guān)系和方式也不同。通過不同的技術(shù)手段和方法,我們最終可溯源到“單刻線樣板標(biāo)準(zhǔn)器組”和“0.01mm標(biāo)準(zhǔn)測微尺”標(biāo)準(zhǔn)器組。
2、金相顯微鏡校準(zhǔn)項目的設(shè)立
(1)物鏡場曲將一物鏡安裝好,將0.01mm標(biāo)準(zhǔn)測微尺放在工作臺上并壓緊;旋轉(zhuǎn)調(diào)焦旋鈕,將焦點調(diào)整在測微尺的中間,視場中心成像清晰,此時將千分表測頭與工作臺表面相接觸并對好表的零位;
再次旋轉(zhuǎn)調(diào)焦旋轉(zhuǎn),把焦點調(diào)整到測微尺的邊緣,使視場邊緣成像清晰。
觀察千分表,其最大偏移量即為該物鏡的場曲誤差,其余物鏡以此類推進行校準(zhǔn)。物鏡場曲誤差的指標(biāo)如下:10X<0.2mm、25X<0.1mm、40X<0.07mm、63X<0.065mm、100X<0.04mm
(2)物鏡放大倍數(shù)的正確性裝上10X標(biāo)準(zhǔn)目鏡和被檢物鏡,將0.01mm標(biāo)準(zhǔn)沒微尺放在工作臺上并壓緊。觀察時測微尺應(yīng)與目鏡中的分劃板相符合,其偏移量測是放大倍數(shù)的誤差。其余物鏡以此類推進行校校準(zhǔn),其誤差不大于5%
(3)目鏡分劃板的準(zhǔn)確度將帶分劃板目鏡的鏡頭旋下,把分劃板放置在萬工顯工作臺上并調(diào)好焦距;調(diào)整工作臺,使分劃板的水平線與萬工顯縱向?qū)к壭谐唐叫胁昧阄唬疵?0格測量一次,直到第100格,其誤差不大于5um
(4)物鏡成像清晰范圍用被檢物鏡及10X目鏡對測微尺或金相試樣進行調(diào)焦,使成像清晰。當(dāng)視場中心像清晰時,測得視場內(nèi)的成像清晰范圍的誤差不低于60%
(5)各物鏡相對于目鏡的格值裝上被檢儀器的10X目鏡,將0.01mm標(biāo)準(zhǔn)測微尺(推薦使用隨機0.01mm測微尺)放在工作臺上并壓緊;
調(diào)整測微尺標(biāo)尺軸線與儀器目鏡分劃板標(biāo)尺軸線平行,并讀出目鏡分劃板i條刻線里包含測微尺n條刻線數(shù),該物鏡相對于目鏡的格值為:C=n/i*0.01mm.其余物鏡的格值以此類推進行校準(zhǔn)。
金相顯微鏡是是廣泛用于冶金、機械加工、科技等行業(yè)的測量儀器。它可以測量金屬材料金相組織奧氏體的晶粒度級別、材料熱處理后滲碳層的厚度等。
倒置金相顯微鏡配置優(yōu)良的平場消色差物鏡與大視野平場目鏡,照明系統(tǒng)采用柯勒照明方式,視場照明均勻。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊,操作方便舒適。
適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。
攝像型三目倒置金相顯微鏡成像清晰,操作靈活,性價比極高。主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織,或用于觀察材料表面的某些特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等。廣泛應(yīng)用在工廠、實驗室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域。
總放大倍數(shù):100X-1250X攝像型金相顯微鏡是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與電腦及工業(yè)攝像機通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起,不僅可以在目鏡上作顯微觀察;
還可在電腦顯示器上實時顯示顯微圖像,可單張、定時、連續(xù)采集顯微圖像,可對顯微圖像定倍縮放,疊加比例尺。
倒置金相顯微鏡功能與特點:
1、采用平場物鏡和平場目鏡,視場平坦,清晰度高。
2、兩路光路輸出,一路用于觀察,一路用于連接攝像裝置。
3、采用帶有刻度標(biāo)尺的雙層機械載物臺和落射照明裝置,帶可變光欄,亮度均勻可調(diào)。
倒置金相顯微鏡適用于研究人員制作標(biāo)準(zhǔn)定倍定標(biāo)顯微圖像、定倍定標(biāo)圖譜比對及論文發(fā)表。
同時系統(tǒng)也可對所采集的圖像內(nèi)目標(biāo)進行直線、折線、圓、角度、面積等多種測量,可為研究檢驗人員研究電子元器件,芯片線路板、紡織印刷,農(nóng)林牧種子形態(tài),固體粉末及液體中微顆粒,薄膜微孔提供精確的分析檢驗數(shù)據(jù)。
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