射線檢驗的方法按所使用的射線源不同，常見的有X 射線檢驗、ｒ射線檢驗、高能X 射線檢驗等；按其顯示缺陷的方法不同，又有射線照相法檢驗、射線熒光屏觀察法檢驗、射線實時成像法檢驗和射線計算機斷層掃描技術(shù)等之分。他們的檢驗原理基本相同。
（一）射線的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減
1、X 射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)

   1）X 射線的產(chǎn)生用來產(chǎn)生X 射線的裝置時X 射線管。它有陰極、陽極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡單結(jié)構(gòu)和工作原理如圖所示。
   2）與檢驗有關(guān)的X 射線的性質(zhì)

     （1） 不可見，以光速直線傳播。

     （2）不帶電，不受電場和磁場的影響。
     （3）具有穿透可見光穿不透的物質(zhì)如骨骼、金屬等，并 在物質(zhì)中有衰減的特性。

     （4）可以使物質(zhì)電離，能使膠片感光，亦能使某些物質(zhì) 產(chǎn)生熒光。

     （5）能起生物效應(yīng)，傷害和殺死細胞。
2、ｒ射線的產(chǎn)生及其特征 ｒ射線是有放射性物質(zhì)內(nèi)部原子核的衰變過程產(chǎn)生的。
3、高能X 射線的產(chǎn)生及其特征 高能X 射線是指射線能量在1MeV 以上的X 射線。能量可高達35MeV , 對鋼鐵的探傷厚度達500mm 。 工業(yè)探傷用的高能X 射線能量一般在15～20MeV 范圍內(nèi)。2）靈敏度 3）透照幅度

4、射線的衰減 當射線穿透物質(zhì)時，由于物質(zhì)對射線有吸收和散射作用便失去部分能量，從而引起射線能量的衰減，這種現(xiàn)象稱為射線的衰減。
射線在物質(zhì)中衰減是按照射線強度的衰減呈負指數(shù)規(guī)律變化的。
（二）射線檢驗的主要方法及其原理
1、射線照相法檢測

2、射線熒光屏觀察法檢驗

3、射線實時成像法檢驗

4、射線計算機斷層掃描技術(shù)
（三）射線探傷中的安全防護
射線探傷中的安全防護原則是職業(yè)探傷人員年較高允許的照射劑量為5rem ，終身累計照射劑量不得超過50rem 。
安全防護措施：1、距離防護 2、時間防護 3、屏蔽防護
（四）焊縫射線探傷的一般程序
1、焊縫表面質(zhì)量檢查
2. 核對實物與委托單項目
3. 機器預(yù)熱畫草圖
4. 貼片、貼標屏蔽散射線
5. 對位選焦距
6. 開機透照
7. 膠片處理
8. 底片評定
9. 簽發(fā)檢驗報告
10. 底片及資料存檔

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