實(shí)驗(yàn)儀器檢測(cè)測(cè)定限為定量范圍的兩端，分為測(cè)定上限與測(cè)定下限兩種，還有檢測(cè)限有三種常用的表示方式，具體內(nèi)容如下。
1、測(cè)定下限
在測(cè)定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能準(zhǔn)確地定量測(cè)定待測(cè)物質(zhì)的最小濃度或量，稱為該方法的測(cè)定下限。
測(cè)定下限反映出分析方法能準(zhǔn)確地定量測(cè)定低濃度水平待測(cè)物質(zhì)的極限可能性。在沒有（或消除了）系統(tǒng)誤差的前提下，他受精密度要求的限制（精密度通常以相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測(cè)定下限高于檢出限越多。
美國(guó)EPASW-846中規(guī)定4MDL為定量下限（RQL），即4倍檢出限濃度作為測(cè)定下限，其測(cè)定值的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。
2、測(cè)定上限
在限定誤差能滿足預(yù)定要求的前提下，用特定方法能夠準(zhǔn)確地定量測(cè)定待測(cè)物質(zhì)的最大濃度或量，稱為該方法的測(cè)定上限。對(duì)沒有（或消除了）系統(tǒng)誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測(cè)定上限也將不同。
測(cè)定限對(duì)于定量分析，進(jìn)一步計(jì)算才能得到與分析物有關(guān)的值（例如，各個(gè)結(jié)果的平均值）。因此，條件更加苛刻，所以測(cè)定限總是高于檢出限。
3、檢測(cè)限有三種常用的表示方式
（1）儀器檢測(cè)下限
可檢測(cè)儀器的最小訊號(hào)，通常用信噪比來(lái)表示,當(dāng)信號(hào)與噪聲之比大于等于3時(shí)，相當(dāng)于信號(hào)強(qiáng)度的試樣濃度，定義為儀器檢測(cè)下限。
（2）方法檢測(cè)下限
即某方法可檢測(cè)的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測(cè)下限。
（3）樣品檢測(cè)下限
即相對(duì)于空白可檢測(cè)的樣品最小含量。樣品檢測(cè)下限定義為：其信號(hào)等于測(cè)量空白溶液的信號(hào)的標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍時(shí)的濃度。
檢測(cè)下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測(cè)下限不僅與方法檢測(cè)下限有關(guān)，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動(dòng)情況有關(guān)。只有當(dāng)空白含量為零時(shí)，樣品檢測(cè)下限等于方法檢測(cè)下限。
然而，空白含量往往不等于零，空白大小受環(huán)境對(duì)樣品的污染，試劑純度、水質(zhì)純度、容器的質(zhì)地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測(cè)下限可能很低，但由于空白含量的存在，以及空白含量的波動(dòng)，樣品檢測(cè)下限可能要比方法檢測(cè)下限大得多。從實(shí)用中考慮，樣品檢測(cè)下限較為 有用和切合實(shí)際。
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